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登録内容 (EID=16639)

EID=16639EID:16639, Map:0, LastModified:2023年1月17日(火) 15:08:33, Operator:[三木 ちひろ], Avail:TRUE, Censor:承認済, Owner:[[副研究部長]/[徳島大学.大学院社会産業理工学研究部]], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
○種別 (必須): □国際会議 [継承]
○言語 (必須):
○招待 (推奨):
○審査 (推奨):
○カテゴリ (推奨):
○共著種別 (推奨):
○学究種別 (推奨):
○組織 (推奨): 1.徳島大学.工学研究科.エコシステム工学専攻.資源循環工学講座 (〜2014年3月31日) [継承]
2.徳島大学.工学部.機械工学科.機械科学講座 [継承]
3.徳島大学.工学部.電気電子工学科.物性デバイス講座 (〜2023年3月31日) [継承]
○著者 (必須): 1. (英) Sun Hong-Bo (日) (読)
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
[継承]
2.ヨードカシス サウリウス ([北海道大学])
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
[継承]
3. (英) Eliseev G Peter (日) (読)
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
[継承]
4. (英) Sugahara Tomoya (日) (読)
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
[継承]
5. (英) Wang Tao (日) (読)
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
[継承]
6.松尾 繁樹
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
[継承]
7.酒井 士郎
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
[継承]
8.三澤 弘明 ([北海道大学])
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
[継承]
○題名 (必須): □(英) Laser-induced Damage Threshold and Laser Processing of GaN  (日)    [継承]
○副題 (任意):
○要約 (任意):
○キーワード (推奨):
○発行所 (推奨):
○誌名 (必須): □Proceedings of SPIE ([SPIE The International Society for Optical Engineering])
(resolved by 0277-786X)
ISSN: 0277-786X (pISSN: 0277-786X, eISSN: 1996-756X)
Title: Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering
Title(ISO): Proc SPIE Int Soc Opt Eng
 (NLM Catalog)   (Scopus)  (Scopus information is found. [need login])
(resolved by 1996-756X)
ISSN: 0277-786X (pISSN: 0277-786X, eISSN: 1996-756X)
Title: Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering
Title(ISO): Proc SPIE Int Soc Opt Eng
 (NLM Catalog)   (Scopus)  (Scopus information is found. [need login])

○ISSN (任意):
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○巻 (必須): □3885 [継承]
○号 (必須): □ [継承]
○頁 (必須): □311 322 [継承]
○都市 (必須): □大阪 (Osaka/[日本国]) [継承]
○年月日 (必須): □西暦 1999年 11月 1日 (平成 11年 11月 1日) [継承]
○URL (任意): □http://adsabs.harvard.edu/abs/2000SPIE.3885..311S [継承]
○DOI (任意):
○PMID (任意):
○CRID (任意):
○WOS (任意):
○Scopus (任意):
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○被引用数 (任意):
○指導教員 (推奨):
○備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● Hong-Bo Sun, Saulius Juodkazis, Peter G Eliseev, Tomoya Sugahara, Tao Wang, Shigeki Matsuo, Shiro Sakai and Hiroaki Misawa : Laser-induced Damage Threshold and Laser Processing of GaN, Proceedings of SPIE, 3885, 311-322, Osaka, Nov. 1999.
欧文冊子 ● Hong-Bo Sun, Saulius Juodkazis, Peter G Eliseev, Tomoya Sugahara, Tao Wang, Shigeki Matsuo, Shiro Sakai and Hiroaki Misawa : Laser-induced Damage Threshold and Laser Processing of GaN, Proceedings of SPIE, 3885, 311-322, Osaka, Nov. 1999.

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