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登録内容 (EID=16363)

EID=16363EID:16363, Map:0, LastModified:2014年12月3日(水) 06:24:11, Operator:[四柳 浩之], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[橋爪 正樹], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
種別 (必須): 国際会議 [継承]
言語 (必須): 英語 [継承]
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審査 (推奨): Peer Review [継承]
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組織 (推奨): 1.徳島大学.工学部.電気電子工学科.知能電子回路講座 [継承]
著者 (必須): 1.橋爪 正樹 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
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2.一宮 正博
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学籍番号 (推奨):
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3. (英) Hoshika Hiroshi (日) (読)
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学籍番号 (推奨):
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4.四柳 浩之 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
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5.為貞 建臣
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題名 (必須): (英) CMOS Open Defect Detection by Supply Current Test  (日)    [継承]
副題 (任意):
要約 (任意): (英) In this paper, a new test method is proposed for detecting open defects in CMOS ICs. The method is based on supply current of ICs generated by applying time-variable electric field from the outside of the ICs. The feasibility of the test is examined by some experiments. The empirical results promised that, by using the method, open defects in CMOS ICs can be detected by measuring supply current which flows when time-variable electric field is applied  (日) 本論文では,CMOS IC 内の断線故障を検出する検査手法を提案する.提案手法は,IC外部から印加する時変電界により発生するICの電源電流を基に検査を行う.提案手法の有効性を実験により示す.   [継承]
キーワード (推奨):
発行所 (推奨): IEEE [継承]
誌名 (必須): (英) Proc. of Design, Automation and Test in Europe Conference 2001 (日) (読)
ISSN (任意):
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(必須): 509 513 [継承]
都市 (必須): ミュンヘン (Munich/[ドイツ連邦共和国]) [継承]
年月日 (必須): 西暦 2001年 3月 13日 (平成 13年 3月 13日) [継承]
URL (任意):
DOI (任意): 10.1109/DATE.2001.915071    (→Scopusで検索) [継承]
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和文冊子 ● Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroshi Hoshika, Hiroyuki Yotsuyanagi and Takeomi Tamesada : CMOS Open Defect Detection by Supply Current Test, Proc. of Design, Automation and Test in Europe Conference 2001, (巻), (号), 509-513, Munich, March 2001.
欧文冊子 ● Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroshi Hoshika, Hiroyuki Yotsuyanagi and Takeomi Tamesada : CMOS Open Defect Detection by Supply Current Test, Proc. of Design, Automation and Test in Europe Conference 2001, (巻), (号), 509-513, Munich, March 2001.

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