『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
ID: Pass:

登録内容 (EID=159033)

EID=159033EID:159033, Map:0, LastModified:2017年12月4日(月) 14:26:01, Operator:[大家 隆弘], Avail:TRUE, Censor:承認済, Owner:[[学科長]/[徳島大学.工学部.光応用工学科]], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
種別 (必須): 学術論文 (審査論文) [継承]
言語 (必須): 英語 [継承]
招待 (推奨):
審査 (推奨): Peer Review [継承]
カテゴリ (推奨): 研究 [継承]
共著種別 (推奨):
学究種別 (推奨):
組織 (推奨): 1.徳島大学.工学研究科.エコシステム工学専攻.資源循環工学講座 (〜2014年3月31日) [継承]
著者 (必須): 1. (英) Mazilu M. (日) (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
2.ヨードカシス サウリウス ([北海道大学])
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
3. (英) Ebisui Takahiro (日) 戎井 崇裕 (読) えびすい たかひろ
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
4.松尾 繁樹
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
5.三澤 弘明 ([北海道大学])
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
題名 (必須): (英) Structural characterization of shock-affected sapphire  (日)    [継承]
副題 (任意):
要約 (任意): (英) The presence of dislocations has been revealed by numerical processing of high resolution transmission electron microscopy images from the regions affected by a shock wave propagation. The shock wave was triggered by a single 220 fs duration pulse of 30 nJ at an 800 nm wavelength inside sapphire at approximately 10 μm depth. The shock-amorphised sapphire has a distinct boundary with the crystalline phase, which is not wet etchable even at a dislocation density of ≃8×1012 cm-2.  (日)    [継承]
キーワード (推奨): 1. (英) FEMTOSECOND (日) (読) [継承]
2. (英) GLASS (日) (読) [継承]
発行所 (推奨): Springer-Verlag [継承]
誌名 (必須): Applied Physics. A, Materials Science & Processing ([Springer-Verlag])
(pISSN: 0947-8396, eISSN: 1432-0630)

ISSN (任意): 0947-8396
ISSN: 0947-8396 (pISSN: 0947-8396, eISSN: 1432-0630)
Title: Applied physics. A, Materials science & processing
Title(ISO): Appl Phys A Mater Sci Process
Supplier: Springer Online Journal Archive
Publisher: Springer
 (NLM Catalog  (Scopus  (CrossRef (Scopus information is found. [need login])
[継承]
[継承]
(必須): 86 [継承]
(必須): 2 [継承]
(必須): 197 200 [継承]
都市 (任意):
年月日 (必須): 西暦 2007年 2月 初日 (平成 19年 2月 初日) [継承]
URL (任意): http://dx.doi.org/10.1007/s00339-006-3732-8 [継承]
DOI (任意): 10.1007/s00339-006-3732-8    (→Scopusで検索) [継承]
PMID (任意):
CRID (任意):
WOS (任意):
Scopus (任意):
評価値 (任意):
被引用数 (任意):
指導教員 (推奨):
備考 (任意): 1.(英) Published online: 7 November 2006  (日)    [継承]

標準的な表示

和文冊子 ● M. Mazilu, Saulius Juodkazis, Takahiro Ebisui, Shigeki Matsuo and Hiroaki Misawa : Structural characterization of shock-affected sapphire, Applied Physics. A, Materials Science & Processing, Vol.86, No.2, 197-200, 2007.
欧文冊子 ● M. Mazilu, Saulius Juodkazis, Takahiro Ebisui, Shigeki Matsuo and Hiroaki Misawa : Structural characterization of shock-affected sapphire, Applied Physics. A, Materials Science & Processing, Vol.86, No.2, 197-200, 2007.

関連情報

Number of session users = 0, LA = 2.76, Max(EID) = 433631, Max(EOID) = 1154462.