『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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登録内容 (EID=157355)

EID=157355EID:157355, Map:0, LastModified:2008年8月29日(金) 18:48:53, Operator:[三輪 昌史], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[三輪 昌史], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
組織 (推奨): 1.和歌山大学 [継承]
種別 (必須): 特許 [継承]
出願国 (必須): 1.日本国 [継承]
発明者 (必須): 1. (英) (日) 真国 一起 (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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2.三輪 昌史 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.機械科学系.知能機械学分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.機械科学コース.知能機械学講座])
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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3. (英) (日) 越本 泰弘 (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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出願人 (推奨): 1. (英) (日) 小田 章 (読) [継承]
名称 (必須): (英)   (日) 光学式傾斜計測方法,及び光学式傾斜センサ   [継承]
要約 (任意):
キーワード (推奨):
出願 (必須): 2004-142362
出願年月日 (必須): 西暦 2004年 5月 12日 (平成 16年 5月 12日) [継承]
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開示 (必須): 2005-326172
開示年月日 (必須): 西暦 2005年 11月 24日 (平成 17年 11月 24日) [継承]
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番号 (必須): 4139899 [継承]
年月日 (必須): 西暦 2008年 6月 20日 (平成 20年 6月 20日) [継承]
備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● 真国 一起, 三輪 昌史, 越本 泰弘 : 光学式傾斜計測方法,及び光学式傾斜センサ, 特願2004-142362 (2004年5月), 特開2005-326172 (2005年11月), 特許第4139899号 (2008年6月).
欧文冊子 ● 真国 一起, Masafumi Miwa and 越本 泰弘 : 光学式傾斜計測方法,及び光学式傾斜センサ, 2004-142362 (May 2004), 2005-326172 (Nov. 2005), 4139899 (June 2008).

関連情報

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