『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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登録内容 (EID=157207)

EID=157207EID:157207, Map:0, LastModified:2007年4月25日(水) 13:12:04, Operator:[米倉 大介], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[米倉 大介], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
学科・専攻 (必須): 1.徳島大学.工学研究科.機械工学専攻 (〜2011年3月31日) [継承]
学位 (必須): 修士
学位名称 (必須):
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言語 (推奨):
氏名 (必須):
題名 (必須): (英)   (日) AIP 法によりCrN 薄膜を被覆したS45C 鋼の疲労強度に及ぼすバイアス電圧の影響   [継承]
副題 (任意):
要約 (任意):
キーワード (推奨):
年月日 (必須): 西暦 2007年 3月 初日 (平成 19年 3月 初日) [継承]
指導教員 (必須): 1.村上 理一 [継承]
指導協力教員 (任意): 1.米倉 大介 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.機械科学系.生産工学分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.機械科学コース.生産工学講座]) [継承]
審査教員 (必須): 1.村上 理一 [継承]
2.吉田 憲一 [継承]
3.英 崇夫 [継承]
備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● [修士] : (氏名) : AIP 法によりCrN 薄膜を被覆したS45C 鋼の疲労強度に及ぼすバイアス電圧の影響, 2007年3月, 村上 理一 (米倉 大介), [村上 理一, 吉田 憲一, 英 崇夫].
欧文冊子 ● [修士] : (氏名) : AIP 法によりCrN 薄膜を被覆したS45C 鋼の疲労強度に及ぼすバイアス電圧の影響, 2007年3月, 村上 理一 (米倉 大介), [村上 理一, 吉田 憲一, 英 崇夫].

関連情報

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