『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
登録内容 (EID=155594)
EID=155594 | EID:155594,
Map:0,
LastModified:2007年3月16日(金) 16:47:33,
Operator:[日下 一也],
Avail:TRUE,
Censor:承認済,
Owner:[日下 一也],
Read:継承,
Write:継承,
Delete:継承.
|
○学科・専攻 (必須): | 1. | 徳島大学.工学研究科.機械工学専攻 (〜2011年3月31日)
| [継承] |
○学位 (必須): | □ | 修士
| [継承] |
○言語 (推奨): |
○氏名 (必須): |
○題名 (必須): | □ | (英) (日) TiN薄膜の残留応力および結晶配向性
| [継承] |
○副題 (任意): |
○要約 (任意): |
○キーワード (推奨): |
○年月日 (必須): | □ | 西暦 2006年 3月 24日 (平成 18年 3月 24日)
| [継承] |
○指導教員 (必須): | 1. | 英 崇夫
| [継承] |
○指導協力教員 (任意): | 1. | 日下 一也 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.機械科学系.生産工学分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.機械科学コース.生産工学講座])
| [継承] |
○審査教員 (必須): | 1. | 英 崇夫
| [継承] |
| 2. | 山田 勝稔
| [継承] |
| 3. | 村上 理一
| [継承] |
○備考 (任意): |
|
標準的な表示
和文冊子 ● |
[修士] : (氏名) : TiN薄膜の残留応力および結晶配向性, 2006年3月, 英 崇夫 (日下 一也), [英 崇夫, 山田 勝稔, 村上 理一]. |
欧文冊子 ● |
[修士] : (氏名) : TiN薄膜の残留応力および結晶配向性, 2006年3月, 英 崇夫 (日下 一也), [英 崇夫, 山田 勝稔, 村上 理一]. |
関連情報
Number of session users = 0, LA = 2.61, Max(EID) = 417461, Max(EOID) = 1130803.