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登録内容 (EID=126384)

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○種別 (必須): □国際会議 [継承]
○言語 (必須): □英語 [継承]
○招待 (推奨):
○審査 (推奨): □Peer Review [継承]
○カテゴリ (推奨):
○共著種別 (推奨):
○学究種別 (推奨):
○組織 (推奨): 1.徳島大学.工学部.光応用工学科.光機能材料講座 [継承]
2.三重大学 [継承]
○著者 (必須): 1.森 篤史
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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2. (英) Akasaka Kazuhiko (日) (読)
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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3. (英) Ito Tomonori (日) (読)
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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4.柳谷 伸一郎 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.光応用系.光機能材料分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.情報光システムコース.光機能材料講座])
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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5.井上 哲夫
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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○題名 (必須): □(英) Alloy phase diagram of InGaN/GaN(0001) pseudomorphic thin film and strain-induced supperlattice structure: Monte Carlo simulation study  (日)    [継承]
○副題 (任意):
○要約 (任意):
○キーワード (推奨):
○発行所 (推奨):
○誌名 (必須): □ (英) The 23rd International Conference on Defects in Semiconductors ICDS-23 PROGRAM and ABSTRACTS (日) (読)
○ISSN (任意):
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○巻 (必須):
○号 (必須):
○頁 (必須): □360 360 [継承]
○都市 (必須): □淡路 (Awaji/[日本国]) [継承]
○年月日 (必須): □西暦 2005年 7月 28日 (平成 17年 7月 28日) [継承]
○URL (任意):
○DOI (任意):
○PMID (任意):
○NAID (任意):
○WOS (任意):
○Scopus (任意):
○評価値 (任意):
○被引用数 (任意):
○指導教員 (推奨):
○備考 (任意): 1.(英) The 23rd International Conference on Defects in Semiconductors ICDS-23, July 24-29, 2005  (日)    [継承]
2.(英) ThP.87  (日)    [継承]

標準的な表示

和文冊子 ● Atsushi Mori, Kazuhiko Akasaka, Tomonori Ito, Shin-ichiro Yanagiya and Tetsuo Inoue : Alloy phase diagram of InGaN/GaN(0001) pseudomorphic thin film and strain-induced supperlattice structure: Monte Carlo simulation study, The 23rd International Conference on Defects in Semiconductors ICDS-23 PROGRAM and ABSTRACTS, (巻), (号), 360, Awaji, July 2005.
欧文冊子 ● Atsushi Mori, Kazuhiko Akasaka, Tomonori Ito, Shin-ichiro Yanagiya and Tetsuo Inoue : Alloy phase diagram of InGaN/GaN(0001) pseudomorphic thin film and strain-induced supperlattice structure: Monte Carlo simulation study, The 23rd International Conference on Defects in Semiconductors ICDS-23 PROGRAM and ABSTRACTS, (巻), (号), 360, Awaji, July 2005.

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