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登録内容 (EID=125434)

EID=125434EID:125434, Map:0, LastModified:2009年12月23日(水) 20:37:04, Operator:[大家 隆弘], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[[教務委員会委員]/[徳島大学.工学部.機械工学科]], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
種別 (必須): 工学部•昼間 (授業概要) [継承]
入学年度 (必須): 西暦 2006年 (平成 18年) [継承]
名称 (必須): (英) Scientific Measurements (日) 科学計測 (読) かがくけいそく
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形態 (不用): 1.講義 [継承]
コース (必須): 1.2006/[徳島大学.工学部.機械工学科]/[昼間コース] [継承]
担当教員 (必須): 1.松尾 繁樹
肩書 (任意):
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単位 (必須): 2 [継承]
目的 (必須): (英)   (日) 機械システムの高性能化·知能化に最近広く用いられている光センシングやオプトメカトロニクスの基礎となる応用光学について講義し,レポート,中間試験,定期試験を実施することによって,これら光技術を用い た新しい機械システム技術に必要な基礎を修得させる.   [継承]
概要 (必須): (英)   (日) 光学の基礎を理解させるために光の電磁理論,幾何光学,波動光学,光源,光検出器などを講述するとともに,様々な光科学計測について解説し,応用光学の基礎力の養成を図る.   [継承]
キーワード (推奨): 1.光学 (optics) [継承]
2.光計測 (optical measurement) [継承]
先行科目 (推奨): 1.ベクトル解析 ([2006/[徳島大学.工学部.機械工学科]/[昼間コース]])
必要度 (任意):
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2.基礎波動論 ([2006/[徳島大学.工学部.機械工学科]/[昼間コース]])
必要度 (任意):
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関連科目 (推奨): 1.機械計測 ([2006/[徳島大学.工学部.機械工学科]/[昼間コース]])
関連度 (任意):
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2.電子回路 ([2006/[徳島大学.工学部.機械工学科]/[昼間コース]])
関連度 (任意):
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要件 (任意): (英)   (日) 三角関数,複素関数,ベクトル解析,基礎波動論などに関する基礎知識を持っていることが望ましい.   [継承]
注意 (任意):
目標 (必須): 1.(英)   (日) 光の性質および光を使った計測の基礎を理解する.  
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計画 (必須): 1.(英)   (日) 序論.科学計測の概要  
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2.(英)   (日) 波動·電磁気学と光の電磁理論  
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3.(英)   (日) 波動·電磁気学と光の電磁理論  
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4.(英)   (日) 波動·電磁気学と光の電磁理論  
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5.(英)   (日) 光の性質  
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6.(英)   (日) 光の性質  
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7.(英)   (日) 光の性質  
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8.(英)   (日) 光学機器  
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9.(英)   (日) 光源と受光素子  
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10.(英)   (日) 光源と受光素子  
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11.(英)   (日) 中間テスト  
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12.(英)   (日) 光応用計測  
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13.(英)   (日) 光応用計測  
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14.(英)   (日) 光応用計測  
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15.(英)   (日) 光応用計測  
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16.(英)   (日) 期末試験  
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評価 (必須): (英)   (日) 平常点(受講姿勢,小レポート),中間試験,期末定期試験を総合して評価する.平常点と中間試験と期末試験の比率は3:2:5とする.   [継承]
JABEE合格 (任意): (英)   (日) 【成績評価】と同一である.   [継承]
JABEE関連 (任意): (英)   (日) (A)70%,(D)30%に対応する.   [継承]
対象学生 (任意): 開講コースと同学科の夜間主コース学生も履修可能 [継承]
教科書 (必須): 1.(英)   (日) 谷田貝豊彦著「応用光学 光計測入門」丸善.   [継承]
参考資料 (推奨): 1.(英)   (日) 山口一郎著「応用光学」オーム社   [継承]
URL (任意):
連絡先 (推奨): 1.松尾 繁樹
オフィスアワー (任意):
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科目コード (推奨):
備考 (任意): 1.(英)   (日) ほぼ毎回の授業で小レポートを課す.平常点には,受講姿勢に加え小レポートの提出状況と内容も含まれる.   [継承]

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(なし) 閲覧 【授業概要】(2006/科学計測) 閲覧 【授業概要】(2007/科学計測)

標準的な表示

和文冊子 ● 科学計測 / Scientific Measurements
欧文冊子 ● Scientific Measurements / 科学計測

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