| 和文冊子 ● |
[氏名] 橋爪 正樹, Masaki Hashizume,
[Email] (電子メール),
[職名・学位] (肩書)・博士(工学),
[専門分野] 電子回路工学,
[所属学会] 電子情報通信学会・IEEE CAS Society・社団法人 エレクトロニクス実装学会・社団法人 エレクトロニクス実装学会・社団法人 エレクトロニクス実装学会・The IEEE Seventh Workshop on RTL and High Level Testing(WRTLT'06)・The IEEE 15th Asian Test Symposium(ATS'06)・The IEEE 14th Asian Test Symposium(ATS'05)・IEEE Asian Test Symposium Sterring Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steerring Coommittee・IEEE Asian Test Symposium Sterring Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steerring Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2012・IEEE Asian Test Symposium 2012・IEEE Asian Test Symposium 2013・IEEE Asian Test Symposium 2014・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steerring Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2014 Program Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2012・IEEE Asian Test Symposium Steering Committee・IEEE Asian Test Symposium 2015・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steerring Coommittee・IEEE Asian Test Symposium Sterring Coommittee・IEEE Asian Test Symposium Sterring Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steerring Coommittee・電子情報通信学会,
[社会活動] 独立行政法人 科学技術振興機構・独立行政法人 科学技術振興機構・徳島県 徳島県教育委員会・徳島県 徳島県教育委員会・徳島県 徳島県教育委員会・四国生産性本部・四国電気保安協会・徳島県 徳島県教育委員会・四国生産性本部・四国生産性本部・徳島市中小企業進行対策委員会・徳島県 徳島県教育委員会・日亜ふるさと振興財団・日亜ふるさと振興財団・四国電気保安協会・四国電気保安協会・独立行政法人 科学技術振興機構・独立行政法人 科学技術振興機構,
[研究テーマ] CMOS回路の電流テストとその検査回路設計, 論理回路の設計と検査, CMOS回路の欠陥検査法, ミックスドシグナル回路のテスト, プリント基板上の論理回路の電気的検査,
[キーワード] 電流テスト, 検査容易化設計, メモリテスト, アナログ回路テスト, 論理回路, リード浮きテスト,
[共同研究可能テーマ] 論理回路の設計と検査
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| 欧文冊子 ● |
[Name] Masaki Hashizume,
[Email] (電子メール),
[Title, Degree] (肩書)・博士(工学),
[Field of Study] Electronic Circuit Engineering,
[Academic Society] Institute of Electronics, Information and Communication Engineers・IEEE CAS Society・Japan Institute of Electronics Packaging・Japan Institute of Electronics Packaging・Japan Institute of Electronics Packaging・The IEEE Seventh Workshop on RTL and High Level Testing(WRTLT'06)・The IEEE 15th Asian Test Symposium(ATS'06)・The IEEE 14th Asian Test Symposium(ATS'05)・IEEE Asian Test Symposium Sterring Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steerring Coommittee・IEEE Asian Test Symposium Sterring Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steerring Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2012・IEEE Asian Test Symposium 2012・IEEE Asian Test Symposium 2013・IEEE Asian Test Symposium 2014・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steerring Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2014 Program Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2012・IEEE Asian Test Symposium Steering Committee・IEEE Asian Test Symposium 2015・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steerring Coommittee・IEEE Asian Test Symposium Sterring Coommittee・IEEE Asian Test Symposium Sterring Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steerring Coommittee・Institute of Electronics, Information and Communication Engineers,
[Social Activity] Japan Science and Technology Agency・Japan Science and Technology Agency・徳島県教育委員会, Tokushima Prefectural Government・徳島県教育委員会, Tokushima Prefectural Government・徳島県教育委員会, Tokushima Prefectural Government・四国生産性本部・四国電気保安協会・徳島県教育委員会, Tokushima Prefectural Government・四国生産性本部・四国生産性本部・徳島市中小企業進行対策委員会・徳島県教育委員会, Tokushima Prefectural Government・日亜ふるさと振興財団・日亜ふるさと振興財団・四国電気保安協会・四国電気保安協会・Japan Science and Technology Agency・Japan Science and Technology Agency,
[Theme of Study] Current Test of CMOS Circuits and Test Circuit Design, Design and Test of Computers, Defect-Based Tests of CMOS Circuits, Mixed Signal Tests, Electrical Test of Logic Circuits on PCBs,
[Keyword] Current Test, Design for Testability, Memory Test, Analog Test, Logic Circuit, Lead Open Test,
[Collaboratible] 論理回路の設計と検査
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【オープンキャンパス】…(8)