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〔閲覧〕【学位論文】
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| REF= |  橋爪 正樹
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排列順: 項目表示: [課程博士] : (氏名) : 歯科用ワイヤー加工に対するコンピュータ援用形状設計と製造シミュレーションの理論的取り組み, 2018年3月, 伊藤 照明 [太田 光浩, 出口 祥啓, 橋爪 正樹, 伊藤 照明]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : 携帯電話を用いた遠隔医療用モニタリングシステム, 2007年3月, 木内 陽介 (芥川 正武), [木内 陽介, 大恵 俊一郎, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : 風力発電システムの出力予測に関する研究, 2011年3月, 安野 卓 [大西 徳生, 橋爪 正樹, 西尾 芳文, 安野 卓]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : Intermittency and its Application in Nonlinear Circuits Networks, 2006年9月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 木内 陽介, 伊坂 勝生, 橋爪 正樹, 牛田 明夫]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : Phasewave Propagation Phenomena in Two-Layer Cellular Neural Networks, 2008年3月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 木内 陽介, 伊坂 勝生, 橋爪 正樹, 牛田 明夫]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : 電流テストによるCMOS ICのリード浮き検出入力に関する研究, 2006年3月, 橋爪 正樹 (為貞 建臣, 四柳 浩之), [橋爪 正樹, 為貞 建臣, 小中 信典]..[指導教員]+[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : 静的電源電流が流れる組合せ論理回路の電流テスト法に関する研究, 2011年3月, 橋爪 正樹 [島本 隆, 橋爪 正樹, 西尾 芳文]..[指導教員]+[審査教員] ... [論文博士] : (氏名) : SPICE-Oriented Circuit Analysis and Simulations, 2006年11月, 西尾 芳文 (牛田 明夫), [西尾 芳文, 木内 陽介, 伊坂 勝生, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : 永久磁石同期電動機の位置センサレスベクトル制御, 2009年3月, 大西 徳生 (北條 昌秀), [木内 陽介, 大西 徳生, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [論文博士] : (氏名) : Study on Diagnostic Techniques for Detecting Degradation of Underground Transmission Cables using Chemical Analysis Methods, 2018年11月, 川田 昌武 [橋爪 正樹, 北條 昌秀, 川田 昌武]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : CMOS論理回路の低消費電力化に関する研究, 2001年3月, 為貞 建臣 [為貞 建臣, 牛田 明夫, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : スタティック型MOS PLAの電流テスト容易化設計法に関する研究, 2001年3月, 為貞 建臣 [為貞 建臣, 牛田 明夫, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : CMOS論理回路における発振を伴うブリッジ故障の検査法に関する研究, 2001年3月, 為貞 建臣 [為貞 建臣, 牛田 明夫, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : IDDQテスト時間短縮のための検査入力系列生成法に関する研究, 2002年3月, 為貞 建臣 [為貞 建臣, 牛田 明夫, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 故障判定しきい値との電流連続比較によるIDDQテスト回路, 2002年3月, 為貞 建臣 [為貞 建臣, 牛田 明夫, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 電流テストによるCMOS論理ICのピンオープン検出法, 2002年3月, 為貞 建臣 [為貞 建臣, 牛田 明夫, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 電流テストによるTTL組合せ回路の断線故障検出能力評価, 2002年3月, 為貞 建臣 [為貞 建臣, 牛田 明夫, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : VDEC設計ツールを用いたCMOS論理IC設計教育システム, 2002年3月, 為貞 建臣 [為貞 建臣, 牛田 明夫, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 電流テストによるCMOS ICの断線故障検出に関する研究, 2003年3月, 為貞 建臣 [為貞 建臣, 牛田 明夫, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : パワー·オフ·テストによるCMOS ICピン浮き検出法に関する研究, 2003年3月, 為貞 建臣 [為貞 建臣, 牛田 明夫, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 電流テストによるCMOS論理ICのピン浮き検出用入力に関する研究, 2003年3月, 為貞 建臣 [為貞 建臣, 牛田 明夫, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 到達不能状態を考慮する順序回路の冗長除去の効率化に関する研究, 2003年3月, 為貞 建臣 [為貞 建臣, 牛田 明夫, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : IDDQテスト高速化法に関する研究, 2003年3月, 為貞 建臣 [為貞 建臣, 牛田 明夫, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 既存CADを流用したダイナミックCMOS論理回路の設計法に関する研究, 2004年3月, 為貞 建臣 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), [為貞 建臣, 來山 征士, 橋爪 正樹]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 検査困難な故障に着目する状態集合分割による順序回路のテスト生成に関する研究, 2004年3月, 為貞 建臣 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), [為貞 建臣, 來山 征士, 橋爪 正樹]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 電流テスト高速化のための検査入力生成に関する研究, 2004年3月, 為貞 建臣 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), [為貞 建臣, 來山 征士, 橋爪 正樹]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : ウェーブレット変換を用いるIDDQテスト法に関する研究, 2004年3月, 為貞 建臣 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), [為貞 建臣, 來山 征士, 橋爪 正樹]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 二次元カオスを用いたスペクトル拡散通信方式, 2005年3月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 木内 陽介, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : SPICEを用いた多次元方程式の特異点の求解及び分岐枝追跡手法, 2005年3月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 木内 陽介, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : CMOS IC内断線故障検出用IDDTテスト回路に関する研究, 2005年3月, 為貞 建臣 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), [為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 既存CADで設計容易なダイナミックCMOS回路方式に関する研究, 2005年3月, 為貞 建臣 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), [為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : CCDイメージセンサテストのための電子回路モデルに関する研究, 2005年3月, 為貞 建臣 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), [為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : ゲートの負荷容量高速充電による高速IDDQテスト回路に関する研究, 2005年3月, 為貞 建臣 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), [為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 抵抗ストリング型D-A変換器の電流テスト容易化設計に関する研究, 2005年3月, 為貞 建臣 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), [為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : レイアウト情報を用いたブリッジ故障候補抽出法に関する研究, 2005年3月, 為貞 建臣 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), [為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 発振現象を考慮するフィードバックブリッジ故障の分類法に関する研究, 2005年3月, 為貞 建臣 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), [為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 検査入力系列の変更による電流テストの検査時間短縮法, 2005年3月, 為貞 建臣 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), [為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : スキャンツリーを用いる順序回路の検査時間削減法に関する研究, 2005年3月, 為貞 建臣 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), [為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : CADを用いたレイアウト変更によるスキャンツリー構成順序回路の設計に関する研究, 2006年3月, 為貞 建臣 (四柳 浩之, 橋爪 正樹), [為貞 建臣, 四柳 浩之, 橋爪 正樹]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : ボイラ制御回路のFMEAと電流センサの検出能力評価に関する研究, 2006年3月, 橋爪 正樹 (為貞 建臣, 四柳 浩之), [橋爪 正樹, 為貞 建臣, 四柳 浩之]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : クロック制御DFTを用いる順序回路の検査時間削減法に関する研究, 2006年3月, 為貞 建臣 (四柳 浩之, 橋爪 正樹), [為貞 建臣, 四柳 浩之, 橋爪 正樹]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : マイコン回路のインターコネクト電流テスト法に関する研究, 2006年3月, 橋爪 正樹 (為貞 建臣, 四柳 浩之), [橋爪 正樹, 為貞 建臣, 四柳 浩之]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 2次元カオス暗号の選択平文攻撃に対する検証と改良, 2006年3月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 上田 哲史]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : Chaos Shift Keying のための Suboptimal 受信機の研究, 2006年3月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 上田 哲史]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 非線形電子回路の周波数領域での解析手法に関する研究, 2006年3月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 牛田 明夫]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : ファジー CNN を用いた画像処理, 2006年3月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 多重スキャンチェーンを用いた複数コアの検査時間削減法に関する研究, 2007年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : フリップフロップのレイアウト情報を用いるスキャンツリー構成法に関する研究, 2007年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 隣接信号線抽出によるビアオープン故障の検査可能性評価に関する研究, 2007年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 時変電源電圧駆動ダイナミックCMOS回路のブロック分割効果に関する研究, 2007年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : Spice-Oriented Sensitivity Analysis and Optimization, 2007年3月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 牛田 明夫]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : Periodic Pattern Formation and its Applications in Cellular Neural Networks, 2007年3月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 牛田 明夫]..[審査教員] ... [学士] : (氏名) : スキャンツリー構成への組込み自己テスト適用による故障検出率評価, 2005年3月, 為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : PSスキャンを用いる検査容易化回路の制御回路の設計, 2005年3月, 為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : PSスキャンを用いる検査容易化回路の検査入力系列の作成, 2005年3月, 為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 故障観測を考慮するスキャンツリー内のフリップフロップの配置法について, 2005年3月, 為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : スキャン設計によるテスト容易化を考慮する状態割当について, 2005年3月, 為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 断線故障の隣接信号線を考慮する検査可能性評価, 2005年3月, 為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : ウェーブレット変換を用いたIDDQテスト法のノイズ除去能力の評価, 2005年3月, 為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : CMOS論理ICピンへの交流電圧印加時の電源電流によるピン浮き検出法, 2005年3月, 為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 超音波ドプラ識別回路の評価ツールの開発, 2005年3月, 為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : ダイナミックCMOS加算器の消費電力評価, 2005年3月, 為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : TCADを用いたCCDイメージセンサの故障解析, 2006年3月, 為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 電流テスト容易化抵抗ストリング型D/A変換器の検査容易性の評価, 2006年3月, 為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : BICセンサ回路によるCMOS回路の実用的テスト法, 2006年3月, 為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 交流電界印加による電流テスト用検査装置の開発, 2006年3月, 為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 疑似断線故障挿入IC設計のための検証環境の開発, 2006年3月, 為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 順序回路のフリップフロップ配置関係を用いるスキャンツリー構成, 2006年3月, 為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : スキャン設計とクロック制御を用いる順序回路のテスト系列の生成について, 2006年3月, 為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : ビット反転論理を用いる組込み自己テストのテストデータ削減法について, 2006年3月, 為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : スキャンツリー内のフリップフロップ変更による消費電力削減について, 2006年3月, 為貞 建臣, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 信号線隣接時におけるIC内断線故障の動作解析, 2007年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 複数隣接信号線の影響を用いる断線故障検査用テストパターン生成法, 2007年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : テストパターンの重複度を用いるツリー長指定時のスキャンツリー構成法, 2007年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : Z80マイコン内縮退故障の実時間テストプログラムとテスト能力評価用ICの設計, 2007年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : IDDT検出回路のIC試作用設計, 2007年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 電流テスト容易化抵抗ストリング型D/A変換器のテスト法, 2007年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : レベルシフタ回路の高抵抗故障の検査能力評価, 2007年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 交流電圧印加によるピン浮き故障検出法の検査能力評価, 2007年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : デジタルテレビのGUIメニュー画面設計環境の開発, 2008年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : スキャンFFの順序変更によるクロック制御DFTの検査時間削減, 2008年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 局所的なIRドロップを考慮するスキャンテスト用入力パターン生成, 2008年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : ビアオープン故障のテスト生成対象数の削減, 2008年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 交流電圧印加時の電源電流によるピン浮き検出法のための検査回路の設計, 2008年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 隣接配線を伴う配線の完全断線発生時のTCADを用いた動作解析, 2008年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 試作論理ICにおける配線断線で生じる故障動作, 2008年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : レベルシフタ回路の高抵抗断線故障の検査容易性評価, 2008年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : VDEC提供CADツールを用いるIC設計教育用資料の製作, 2008年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : リーク電流を低減するIDDQテスト用テストパターン生成, 2009年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 信号線隣接箇所における断線故障線の論理値解析, 2009年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : デバイスシミュレータを用いた同一層隣接4配線の完全断線時の動作解析, 2009年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 擬似断線故障挿入ICの故障影響測定, 2009年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 並列接続LEDの劣化検出回路, 2009年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : CMOSイメージセンサ画素回路の断線故障の電気的検査能力評価, 2009年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : CMOSオペアンプを用いた反転増幅器の電流テスト能力評価, 2009年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : デジタルテレビのGUIメニュー画面動作設計環境の開発, 2009年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 学生証による出欠確認用ICカードリーダーの試作, 2009年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : パターンごとのI_{DDQ}値ばらつきを抑えるテストパターン生成, 2010年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 配線長制約下におけるテストデータ量削減のためのBASTスキャンチェーン構成法, 2010年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : MOSのゲート断線のスイッチング動作に与える影響調査, 2010年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : CMOSイメージセンサ画素回路の電気的検査の可能性評価, 2010年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 擬似オープン故障挿入ICの故障影響調査, 2010年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : デバイスシミュレータを用いたビア断線時の故障動作解析, 2010年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 隣接線の影響の違いによるビアオープン故障の検出可能性調査, 2010年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 学生連絡用メール配信プログラムの開発, 2010年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 分岐部のビアオープン故障顕在化のための隣接線抽出を用いるテスト生成について, 2011年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 実測によるビアオープン故障模擬 IC の故障動作解析, 2011年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 光の脳波に与える影響調査のための LED 点滅回路の試作, 2011年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 電流テスト容易化抵抗ストリング型 DA 変換器の検査容易性への検査速度の影響調査, 2011年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : CMOS 論理 IC 間配線の電気的検査法の検査可能性調査, 2011年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 微小遅延故障検出のための遅延検出回路の設計, 2011年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 両立 FF 集合を利用するテストデータ量削減のための BAST スキャンチェーン構成法, 2011年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : CMOSイメージセンサ内画素回路の電気的検査能力評価, 2012年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 組み込み型IDDT出現時間検出回路の検出能力評価, 2012年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 3次元実装IC内ダイ間配線の断線検出用組み込み型検査回路設計, 2012年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 試作ICの実測による遅延故障検査用微小遅延検出回路の評価, 2012年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : タイミング解析による遅延故障検査容易化設計時の必要付加遅延量の導出, 2012年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 遅延故障検査容易化回路を用いた複数経路検査法, 2012年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : パターン生成器とスキャンチェーン接続変更によるBAST用テストデータ量削減について, 2012年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 半断線故障における隣接配線の信号遷移による遅延解析, 2012年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 格子状TSV配置におけるTSV断線時の故障動作解析, 2012年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 屈折隣接配線が断線配線に及ぼす影響調査, 2012年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : ESD入力保護能力を低下させない検査用回路によるIC間配線の電気検査法, 2013年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : コンデンサを論理回路の電源として使用する電流テストの可能性, 2013年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 隣接TSVの影響を考慮するTSV故障検査用リングオシレータの提案と評価, 2013年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 遅延故障検査容易化回路を用いる複数経路の検査可能性調査, 2013年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 遅延検出回路組込み型バウンダリスキャンの設計の自動化, 2013年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 断線故障用テストパターンの故障顕在化有効性評価法, 2013年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : BASTにおける反転信号のリセット制御によるテストデータ量削減について, 2013年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 実装基板路内双方向論理信号線断線の電気検査の可能性調査, 2013年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : FF間の微小遅延故障検査のためのTDCセルの設計, 2014年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 遅延故障検査容易化設計用タイミング余裕計測回路の設計, 2014年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : TSV故障検出回路の制御部改良とVDL回路部評価, 2014年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 隣接線論理割当の重複を抑制するビアオープン故障診断用テスト生成, 2014年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : LFSRのループ制御を用いるBASTコード削減, 2014年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : CMOS ICの電流テスト用電源回路設計, 2014年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : CMOS SRAM ICのデータバス断線の電気検査能力調査, 2014年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : CMOSイメージセンサ内画素回路の冗長故障調査, 2014年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : ダイオードを用いた電気検査回路による断線検出能力評価実験, 2014年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 多入力ICのプリント配線板間配線の組込型電気検査用回路, 2015年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 3次元積層メモリIC内不良配線の救済回路, 2015年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : IC内組込み型IDDT出現時間検出回路の検出可能性調査, 2015年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : IDDT出現時間検出回路を用いるテストのための故障検出判定シミュレータの開発, 2015年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 3層積層ICにおけるTSV遅延検出回路の設計と検査能力評価, 2015年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 隣接線の信号遷移を用いる半断線故障の識別可能性調査, 2015年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 断線故障検査における隣接線の論理値割当候補の削減, 2015年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 実測による遅延故障検査容易化回路の複数経路検査可能性調査, 2015年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 三角波生成回路を内蔵した検査回路によるIC間配線の電気検査法, 2015年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 注入電荷量によるIC内断線検出回路の実験による検査可能性評価, 2016年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : バウンダリスキャン機構を用いたオンライン電気テスト回路, 2016年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 3DICのダイ間配線検査のためのTDC組込み型バウンダリスキャン内制御回路の開発, 2016年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : ばらつきを考慮するTDC組込み型スキャン回路を用いる遅延測定の分解能調査, 2016年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : IDDTを用いた断線故障検査法における重み付き擬似乱数パターン印加時の故障検出率調査, 2016年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 半断線故障検査時の遷移タイミングを考慮する隣接線候補の削減, 2016年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : プリント配線板回路の断線予兆検出用回路の開発, 2016年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : ダイオードとMOSからなる配線電気検査回路による容量断線検出能力評価, 2016年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 3次元積層IC内ダイ間配線のオフセットキャンセル型コンパレータを用いた組込み型電気検査回路, 2017年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 注入電荷量による3次元積層IC内ダイ間配線検査法の検査能力評価, 2017年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 弛緩発振器を用いた3次元積層IC内ダイ間配線検査法の検査能力評価, 2017年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : ICとプリント配線板間接合部の断線検出装置の開発, 2017年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 遅延故障検査容易化回路における遅延ばらつきを低減する遅延付加部設計法, 2017年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 遅延故障検査容易化回路を用いる2経路同時検査の経路選択条件の実測調査, 2017年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 遅延故障検査容易化設計のための入力信号非依存の遅延付加可能な遅延ゲートの設計, 2017年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 3次元実装ICにおけるマイクロバンプ欠損時の遅延解析, 2017年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : パス遅延順位を用いる半断線故障の検出可能性評価, 2017年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : TDC組込み型バウンダリスキャンにおけるTDC部のスタンダードセル設計と評価, 2018年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 遅延故障検査容易化回路に用いる自動生成パターンの複数経路同時検査可能性調査, 2018年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 遅延故障検査に用いる完全ディジタルPLL回路の時間分解能について, 2018年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 信号遷移タイミングを考慮するパス遅延比較による半断線故障検査法について, 2018年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : シュミットトリガ回路を含まない弛張発振器による3D IC内ダイ間検査のための温度補正, 2018年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 電荷注入開始時刻と電源電圧保持用コンデンサの電荷注入量によるIC内抵抗断線検出能力に及ぼす影響, 2018年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : MOSキャパシタを用いた電荷注入検査法の3D IC内ダイ間断線検出能力, 2018年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : ダイオード組込型検査用回路を用いた検査法の3D IC内ダイ間断線検出能力, 2018年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : オフセットキャンセル型コンパレータを用いた3D IC内ダイ間容量断線検出可能性評価, 2018年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : バウンダリスキャンセルを用いた出荷後検査法の実装基板回路への適用, 2019年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 遅延故障検査容易化回路による遅延量測定の補正法の検討, 2019年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : シュミットトリガゲート駆動弛緩発振器による3D IC内ダイ間配線検査法の検査能力評価, 2019年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 遅延故障検査容易化設計における同時検査対象経路の選択について, 2019年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : パス順位比較に用いるPFDの遅延分解能調査, 2019年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 機械学習の異常検知を用いる隣接2配線上の半断線故障判別について, 2019年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : オフセットキャンセル型コンパレータを用いた断線検出回路による電気検査可能性評価, 2019年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 近似計算適用加算器に対するテストパターン生成について, 2020年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : SAT手法を用いた2パターンペアテスト生成における遷移信号印加制約について, 2020年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 遅延故障検査容易化回路制御用マイコンプログラムの開発, 2020年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 3D IC遅延故障検査容易化設計用のクロック制御回路について, 2020年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 3D ICの検査容易化設計における遅延故障検査用ダイ選択回路の開発, 2020年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 製造ばらつき発生時でも検査可能な3D IC内ダイ間配線検査用弛緩発振器の設計, 2020年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : ダイオード組込型検査用回路を用いた3D IC内ダイ間断線検出法の試作ICによる検出能力評価, 2020年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 電荷注入量による断線検出法の試作ICを用いた検査能力調査, 2020年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 近似計算を用いた耐故障設計における検査可能性の向上について, 2021年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : 3次元積層型イメージセンサ回路の積層チップ間配線の検査について, 2021年3月, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : オフセットキャンセル型コンパレータを用いた組込み型電気テスト回路によるIC間断線検出能力評価, 2021年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : IC内電荷注入回路を用いた断線検出に必要な故障伝搬領域調査, 2021年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [学士] : (氏名) : IC内組み込みダイオードの静的電源電流によるIC間断線検出回路の試作, 2021年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [(審査教員)]..[指導教員] ... [修士] : (氏名) : 固定アウトライン制約におけるSAアルゴリズムを用いたモジュール配置に関する研究, 2022年3月, 島本 隆 (宋 天, 片山 貴文), [島本 隆, 宋 天, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 遺伝的アルゴリズム及び粒子群最適化を用いたLSIフロアプラン最適化に関する研究, 2022年3月, 島本 隆 (宋 天, 片山 貴文), [島本 隆, 宋 天, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 機械学習による画像修復を用いた画面内符号化技術に関する研究, 2022年3月, 宋 天 (片山 貴文, 島本 隆), [宋 天, 島本 隆, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 水中画像の色補正技術に関する研究, 2022年3月, 宋 天 (片山 貴文, 島本 隆), [宋 天, 島本 隆, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 高写実性CG画像を用いた高精度ドメイン適応型セマンティックセグメンテーションに関する研究, 2022年3月, 宋 天 (片山 貴文, 島本 隆), [宋 天, 島本 隆, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : Bifurcation Analysis in Coupled Parametrically Forced Maps, 2012年9月, 西尾 芳文 (上手 洋子), [上田 哲史, 西尾 芳文, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : Self-Organizing Map with Learning Algorithms Reflecting Neuron Positions, 2008年9月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 木内 陽介, 橋爪 正樹, 島本 隆, 斉藤 利通]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : A Cryptosystem Based on Iterations of Chaotic Maps, 2009年3月, 西尾 芳文 [橋爪 正樹, 木内 陽介, 島本 隆, 西尾 芳文, 牛田 明夫]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : Noncoherent Chaos Communication Systems Based on Characteristics of Chaos, 2009年3月, 西尾 芳文 (山里 敬也), [橋爪 正樹, 木内 陽介, 島本 隆, 西尾 芳文, 山里 敬也]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : Electrical Testing for Open Lead Detection of Logic ICs, 2010年3月, 橋爪 正樹 [島本 隆, 橋爪 正樹, 西尾 芳文, 四柳 浩之]..[指導教員]+[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : 階層型ニューラルネットワークを用いた群ロボットの協調搬送制御に関する研究, 2011年3月, 安野 卓 [大西 徳生, 橋爪 正樹, 西尾 芳文, 安野 卓]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : Research on Locating Partial Discharge Source for Insulation Diagnosis of Electric Power Equipment by Using FDTD and DOA Methods, 2011年3月, 川田 昌武 [大西 徳生, 森田 郁朗, 橋爪 正樹, 川田 昌武]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : V/f制御によるファン・ポンプモータのセンサレス正弦波駆動, 2011年3月, 大西 徳生 [橋爪 正樹, 大西 徳生, 森田 郁朗]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : Study of fast encoding architecture for H.264/AVC, 2011年3月, 島本 隆 (宋 天), [橋爪 正樹, 島本 隆, 西尾 芳文]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : 未知の顔に表情を生成するための顔画像アニメーション手法に関する研究, 2011年9月, 西尾 芳文 (上手 洋子), [橋爪 正樹, 島本 隆, 西尾 芳文, 劉 躍虎]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : H.264/AVC を用いた高精度キー・フレーム抽出アルゴリズムに関する研究, 2012年3月, 島本 隆 (宋 天), [橋爪 正樹, 島本 隆, 西尾 芳文, 宋 天]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : モータの動特性を有するCPGネットワークを用いた4脚ロボットの適応的歩行制御に関する研究, 2013年9月, 安野 卓 [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 島本 隆, 安野 卓]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : PSOを用いた郡移動ロボットの協調制御システムに関する研究, 2013年9月, 安野 卓 [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 島本 隆, 安野 卓]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : 超電導磁気浮上式鉄道用地上コイルの高機能化および耐久性検証・絶縁診断技術に関する研究, 2014年3月, 川田 昌武 [下村 直行, 橋爪 正樹, 安野 卓, 川田 昌武]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : 風速予測を用いた小型風力発電機の最大出力制御システムに関する研究, 2014年3月, 安野 卓 [下村 直行, 橋爪 正樹, 安野 卓]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : 高次非線形特性をもつ結合マルチモード発振回路の解析, 2015年3月, 西尾 芳文 [上田 哲史, 橋爪 正樹, 西尾 芳文, 上手 洋子]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : 隣接線影響に基づいた故障検出・診断のためのテスト生成法に関する研究, 2015年3月, 四柳 浩之 [島本 隆, 橋爪 正樹, 西尾 芳文, 四柳 浩之]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : 長距離配電線に対応した太陽光発電系統連系用電力変換装置の無効電力制御手法に関する研究, 2015年9月, 北條 昌秀 [下村 直行, 安野 卓, 橋爪 正樹, 北條 昌秀]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : 次世代動画像符号化アルゴリズムに関する研究, 2016年9月, 宋 天 (島本 隆), [橋爪 正樹, 西尾 芳文, 島本 隆, 宋 天]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : 次世代動画像符号化標準における高効率画面内予測アルゴリズム及びそのアーキテクチャに関する研究, 2018年3月, 宋 天 (島本 隆), [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 島本 隆, 宋 天]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : 次世代動画像符号化技術向け拡張方式の要素技術に関する研究, 2019年3月, 宋 天 (島本 隆), [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 島本 隆, 宋 天]..[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : 注目領域検出のための視覚的注意モデル設計に関する研究, 2022年3月, 宋 天 (片山 貴文, 島本 隆), [橋爪 正樹, 西尾 芳文, 島本 隆, 宋 天]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : サブミクロンICの組込み型IDDQテスト回路に関する研究, 2008年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 電源電流異常によるCMOS回路の断線検出法に関する研究, 2008年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 配線間容量を考慮した断線故障TEG設計および故障解析に関する研究, 2008年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : CCDイメージセンサへの電荷注入法に関する研究, 2008年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : Statistical Analysis and Markov Chain Modeling of Clustering in Coupled Chaotic Circuits with Mutual Inductors, 2008年3月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 島本 隆, 上田 哲史]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : Small World Cellular Neural Networks and its Applications to Image Processing, 2008年3月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 牛田 明夫]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : Solving Ability of Noise-Induced Hopfield Neural Network with Changing Noise Amplitude, 2008年3月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 島本 隆, 上田 哲史]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : One-Dimensional Self-Organizing Map Considering Distance between Neurons, 2008年3月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 島本 隆, 上田 哲史]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : H.264/AVCにおけるフレームメモリアクセス手法に関する研究, 2009年3月, 宋 天 (島本 隆), [島本 隆, 橋爪 正樹, 西尾 芳文]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : H.264/AVCにおける高速DCT・量子化エンジンに関する研究, 2009年3月, 宋 天 (島本 隆), [島本 隆, 橋爪 正樹, 西尾 芳文]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : MPEG-2/H.264トランスコーダにおける符号化モード選択手法, 2009年3月, 宋 天 (島本 隆), [島本 隆, 橋爪 正樹, 西尾 芳文]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : H.264/AVCにおけるデブロッキングフィルタの低消費電力化実装手法, 2009年3月, 宋 天 (島本 隆), [島本 隆, 橋爪 正樹, 西尾 芳文]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : H.264の階層Bピクチャにおける符号化効率向上および演算量削減に関する研究, 2009年3月, 宋 天 (島本 隆), [島本 隆, 橋爪 正樹, 西尾 芳文]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 動画像検索におけるキー・フレーム選択アルゴリズムに関する研究, 2009年3月, 宋 天 (島本 隆), [島本 隆, 橋爪 正樹, 西尾 芳文]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 既配置回路の小変更時における再配置手法に関する研究, 2009年3月, 島本 隆 (宋 天), [島本 隆, 橋爪 正樹, 西尾 芳文]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 配線混雑度を考慮したLSIスタンダードセル配置手法に関する研究, 2009年3月, 島本 隆 (宋 天), [島本 隆, 橋爪 正樹, 西尾 芳文]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : Spice-Oriented Asymptotic Analysis of Nonlinear Circuits Combining with MATLAB, 2009年3月, 西尾 芳文 (牛田 明夫), [西尾 芳文, 牛田 明夫, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : CMOS論理IC内の断線故障動作に影響を及ぼす配線構造に関する研究, 2009年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 隣接信号線の断線故障線論理への影響を用いる故障検出条件に関する研究, 2009年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : スキャンベースBISTにおけるテスト容易化設計とテストデータ量削減法に関する研究, 2009年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : マイクロコンピュータのバス故障用アットスピード検査プログラムに関する研究, 2009年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : IC内組み込み型IDDT出現時間検出回路に関する研究, 2009年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 電流テスト容易化抵抗ストリング型DA変換器に関する研究, 2009年3月, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 混雑度予測に基づいた概略配線アルゴリズムに関する研究, 2010年3月, 島本 隆 (宋 天), [島本 隆, 橋爪 正樹, 西尾 芳文]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : Color Image Processing Using Cellular Neural Networks, 2010年3月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : IC間配線断線の組み込み型センサ回路に関する研究, 2010年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 既フロアプランへのモジュール追加手法に関する研究, 2010年3月, 島本 隆 (宋 天), [島本 隆, 橋爪 正樹, 西尾 芳文]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : CMOS論理IC間配線の電流テスト法に関する研究, 2010年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : H.264/AVCにおける適応的動き探索範囲の決定手法に関する研究, 2010年3月, 宋 天 (島本 隆), [島本 隆, 橋爪 正樹, 西尾 芳文]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 隣接線間容量を考慮する断線故障検査用テスト生成に関する研究, 2010年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : H.264/AVCにおけるエンコーダーの高速化アルゴリズムに関する研究, 2010年3月, 宋 天 (島本 隆), [島本 隆, 橋爪 正樹, 西尾 芳文]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : GPUによるデジタル放送の高速編集手法に関する研究, 2010年3月, 宋 天 (島本 隆), [島本 隆, 橋爪 正樹, 西尾 芳文]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 動的パターン配線を用いた高速概略配線アルゴリズムに関する研究, 2010年3月, 島本 隆 (宋 天), [島本 隆, 橋爪 正樹, 西尾 芳文]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 回路レイアウト上での分岐を反映するビアオープンのテスト生成に関する研究, 2010年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : レベルシフタ回路の電流テスト容易化設計に関する研究, 2010年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : Community Self-Organizing Map with Camaraderie and its Applications, 2010年3月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : Synchronization Phenomena in Multiple Resonators with Different Oscillation Frequencies, 2010年3月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : H.264/SVCにおけるエンハンスメントレイヤの演算量削減に関する研究, 2010年3月, 宋 天 (島本 隆), [島本 隆, 橋爪 正樹, 西尾 芳文]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : CMOS論理IC内信号線完全断線時の故障動作に関する研究, 2010年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 反転信号シフト型スキャンベースBISTのテスト容易化設計に関する研究, 2011年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : CMOS論理IC内半断線故障発生時の信号遅延顕在化に関する研究, 2011年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : Investigation of Cellular Neural Networks with Dynamic Template for Motion Picture Processing, 2011年3月, 西尾 芳文 (上手 洋子), [西尾 芳文, 島本 隆, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : CMOSイメージセンサ回路の電気的検査法に関する研究, 2011年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : Particle Swarm Optimization Containing Shared Velocity Using Plural Swarms, 2011年3月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 島本 隆, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 概日リズムの光依存性調査用LED照明装置の開発とLED点灯回路の電気的検査法, 2011年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : Effect of Chaos Noise to Matrix Elements with Hopfield Neural Network for QAP, 2011年3月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 島本 隆, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : スキャンテスト時の遷移数削減による局所的なIRドロップの低減に関する研究, 2011年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 使用LEDのI-V特性測定値を用いるLED点灯回路の動作点推定法, 2012年2月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 島本 隆, 四柳 浩之]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : Neural Network with Injection of Biometric Data, 2012年3月, 西尾 芳文 (上手 洋子), [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 2パターンテスト時の局所的なIRドロップ低減のためのドントケア割当て手法に関する研究, 2012年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : Investigation of Multi-Layer Perceptron with Pulse Glial Network, 2012年3月, 西尾 芳文 (上手 洋子), [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : Space-Varying Cellular Neural Networks Designed by Fuzzy Inference and Color Component, 2012年3月, 西尾 芳文 (上手 洋子), [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : SPICE-Oriented Algorithm for Stability Assessment of Nonlinear Circuits, 2012年3月, 西尾 芳文 (上手 洋子), [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 隣接線によりビアオープン故障を顕在化するテスト生成に関する研究, 2012年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 3次元実装IC内ビア断線の論理値テスト入力に関する研究, 2012年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : リーク電流のパターン依存低減のための IDDQテスト入力生成法に関する研究, 2012年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : Ant Colony Optimization Using Genetic Information, 2012年3月, 西尾 芳文 (上手 洋子, 松下 春奈), [西尾 芳文, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 電流テスト容易化レベルシフタ回路の断線検出容易性に関する研究, 2012年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 反転信号シフト型スキャンベースBISTにおけるテストデータ量削減法に関する研究, 2013年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : Cellular Neural Networks with Connections Inspired by Actual Friendship, 2013年3月, 上手 洋子 (西尾 芳文), [上手 洋子, 西尾 芳文, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : IC接続部不良の電気検査用組込型回路に関する研究, 2013年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : Investigation of Coupled Chaotic Oscillators Composed of RC Circuits, 2013年3月, 西尾 芳文 (上手 洋子), [西尾 芳文, 上手 洋子, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : Clustering Phenomena in a Network of Coupled Chaotic Circuits, 2013年3月, 上手 洋子 (西尾 芳文), [上手 洋子, 西尾 芳文, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : Synchronization of Coupled van der Pol Oscillators Including Frustration, 2013年3月, 上手 洋子 (西尾 芳文), [上手 洋子, 西尾 芳文, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : SRAM IC とプリント配線板間断線の電気検査能力評価, 2013年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : TDC組込み型バウンダリスキャンを用いる遅延故障検査用テスト容易化設計に関する研究, 2013年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 入力部にORゲートを付加した抵抗ストリング型DA変換器の電流テスト能力評価, 2013年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : CMOSイメージセンサ回路の電気検査入力に関する研究, 2014年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : TDC組込み型バウンダリスキャンの遅延故障検査入力と設計最適化に関する研究, 2014年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : TDC組込み型バウンダリスキャンを用いた微小遅延故障検出に関する研究, 2014年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 非同期同時振動発振器の結合系にみられる様々な同期現象, 2014年3月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 上手 洋子, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : テストデータ量削減のためのGAを用いるスキャンベースBIST設計に関する研究, 2014年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 組込み型IDDT出現時間検出回路のレイアウト設計とその検出能力, 2014年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 電磁界解析結果を用いた完全断線TSVの出力電圧推定法に関する研究, 2014年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 隣接TSVを考慮した断線故障検出回路に関する研究, 2014年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 隣接線の影響を用いるビアオープン故障箇所の特定に関する研究, 2014年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 隣接配線を伴う半断線故障配線の遅延解析に関する研究, 2014年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : IC間断線信号線検出用組込み型電気検査回路に関する研究, 2015年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : バウンダリスキャン回路を用いる遅延故障検査容易化設計に関する研究, 2015年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 強化学習を用いたセルラニューラルネットワークの調査, 2015年3月, 上手 洋子 [上手 洋子, 西尾 芳文, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 実装基板内双方向信号線の電気検査法に関する研究, 2015年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 隣接TSVを考慮するリングオシレータを用いる検査法に関する研究, 2015年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : BASTにおけるスキャンシフト制御を用いたテストデータ量削減に関する研究, 2015年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : BASTにおけるスキャンシフト制御を用いるテストパターン生成手法に関する研究, 2015年9月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 歩行分析用無線センサおよび機械学習を用いた転倒検知に関する研究, 2015年9月, 上手 洋子 [上手 洋子, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 複雑ネットワーク結合カオス回路の同期現象, 2016年3月, 上手 洋子 [上手 洋子, 西尾 芳文, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 微小遅延故障検査容易化のためのTDC組込み型スキャン設計に関する研究, 2016年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : テストデータ量削減のためのBAST内リシード回路設計に関する研究, 2016年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : CMOSイメージセンサ画素回路の製造ばらつきに対する電気検査法の検査能力評価, 2016年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 一次元座標上に配置された3つのネットワークトポロジーにおける同期現象の調査, 2016年3月, 上手 洋子 [上手 洋子, 西尾 芳文, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 実装基板内メモリICのデータバス断線の電気検査法に関する研究, 2016年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : ICの注入電荷量による電流テスト回路に関する研究, 2016年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : RC位相型発振回路とパルス波生成器を利用したカオス発振, 2016年3月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 上手 洋子, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : IC間配線の電気検査のための不良判定しきい値決定法に関する研究, 2016年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : ネットワークトポロジーが確率的に変化する結合カオス回路における同期現象, 2016年3月, 上手 洋子 [上手 洋子, 西尾 芳文, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 3DICの遅延故障検査のためのバウンダリスキャン設計に関する研究, 2016年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 隣接線論理割当によるビアオープン箇所特定可能なテスト生成に関する研究, 2016年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 面積と遅延分解能を考慮するTSV故障検出回路の設計に関する研究, 2016年3月, 四柳 浩之 [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : TDC組込み型スキャンFFを用いる検査法に関する研究, 2020年3月, 四柳 浩之 (橋爪 正樹), [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 遅延付加セル設計及び配置制約による遅延故障検査回路の検査精度の向上, 2020年3月, 四柳 浩之 (橋爪 正樹), [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : パス順位を用いる半断線故障検査のテスト集合分割法に関する研究, 2020年3月, 四柳 浩之 (橋爪 正樹), [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : PLL回路を用いるテストクロック生成回路に関する研究, 2020年3月, 四柳 浩之 (橋爪 正樹), [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 差動増幅回路とTSVへの電荷注入量に基づく欠陥検出法に関する研究, 2020年3月, 四柳 浩之 (橋爪 正樹), [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : ダイオード組込型検査用回路を用いた信号線欠陥の電気検査法に関する研究, 2020年3月, 橋爪 正樹 (四柳 浩之), [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 電荷注入量によるCMOS IC内断線検出のための注入開始時刻変更法に関する研究, 2020年3月, 橋爪 正樹 (四柳 浩之), [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : バウンダリスキャンセルを用いた3D IC内ダイ間抵抗断線出荷後検出法に関する研究, 2021年3月, 橋爪 正樹 (四柳 浩之), [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 弛緩発振器を用いた出荷後検査も可能にする電気的配線検査法に関する研究, 2021年3月, 橋爪 正樹 (四柳 浩之), [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : オフセットキャンセル型コンパレータを用いる電気的配線検査法に関する研究, 2021年3月, 橋爪 正樹 (四柳 浩之), [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]..[指導教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 遅延故障検査容易化設計における遅延補正に関する研究, 2021年3月, 四柳 浩之 (橋爪 正樹), [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : TDC組込み型スキャンFFを用いる複数経路同時検査による検査時間の短縮に関する研究, 2021年3月, 四柳 浩之 (橋爪 正樹), [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 半断線故障検査のためのパス比較用PFDの設計に関する研究, 2021年3月, 四柳 浩之 (橋爪 正樹), [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 機械学習の異常検知による半断線故障判別用テスト生成に関する研究, 2021年3月, 四柳 浩之 (橋爪 正樹), [四柳 浩之, 橋爪 正樹, 島本 隆]..[指導協力教員]+[審査教員] ... [課程博士] : (氏名) : 高速スイッチング半導体電力変換回路に適するFRDの高速ソフトリカバリ性及びアバランシェ耐量向上に関する実用化研究, 2009年3月, 大西 徳生 [木内 陽介, 大西 徳生, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 異なるサイズのリング状結合発振器を結合させたときに見られる同期現象, 2015年3月, 西尾 芳文 [西尾 芳文, 上手 洋子, 橋爪 正樹]..[審査教員] ... [修士] : (氏名) : 非線形回路の環状結合系で観察される共存する同期現象について, 2015年3月, 上手 洋子 [上手 洋子, 西尾 芳文, 橋爪 正樹]..[審査教員] ...
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