『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
〔閲覧〕【学位論文】
--- テーブル「学位論文」（学位授与の情報）は授与した学位を登録するためのテーブルです．
登録情報
抽出条件
| OWN= |  橋爪 正樹
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登録情報の数
有効な情報: 17件 + 無効な情報: 1件 = 全ての情報: 18件
全ての有効な情報 (17件)
条件追加
[学科・専攻](学位授与学科・専攻（論文博士の場合には研究科名）)による分類 :
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[学位](学位の種別)による分類 : | ||||||||||||||||||||
[年月日](発行年月日)による分類
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抽出結果のリスト
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排列順: 項目表示: [課程博士] : (氏名) : バイポーラ論理回路の電流テスト法に関する研究, 1999年3月, 為貞 建臣 [為貞 建臣, 牛田 明夫, 來山 征士]. ... [課程博士] : (氏名) : 静的電源電流が流れる組合せ論理回路の電流テスト法に関する研究, 2011年3月, 橋爪 正樹 [島本 隆, 橋爪 正樹, 西尾 芳文]. ... [課程博士] : (氏名) : Electrical Testing for Open Lead Detection of Logic ICs, 2010年3月, 橋爪 正樹 [島本 隆, 橋爪 正樹, 西尾 芳文, 四柳 浩之]. ... [修士] : (氏名) : CMOSイメージセンサ回路の電気的検査法に関する研究, 2011年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]. ... [修士] : (氏名) : 概日リズムの光依存性調査用LED照明装置の開発とLED点灯回路の電気的検査法, 2011年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]. ... [修士] : (氏名) : 使用LEDのI-V特性測定値を用いるLED点灯回路の動作点推定法, 2012年2月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 島本 隆, 四柳 浩之]. ... [修士] : (氏名) : 3次元実装IC内ビア断線の論理値テスト入力に関する研究, 2012年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]. ... [修士] : (氏名) : 電流テスト容易化レベルシフタ回路の断線検出容易性に関する研究, 2012年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 島本 隆]. ... [修士] : (氏名) : IC接続部不良の電気検査用組込型回路に関する研究, 2013年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]. ... [修士] : (氏名) : SRAM IC とプリント配線板間断線の電気検査能力評価, 2013年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]. ... [修士] : (氏名) : 入力部にORゲートを付加した抵抗ストリング型DA変換器の電流テスト能力評価, 2013年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]. ... [修士] : (氏名) : IC間断線信号線検出用組込み型電気検査回路に関する研究, 2015年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]. ... [修士] : (氏名) : 実装基板内双方向信号線の電気検査法に関する研究, 2015年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]. ... [修士] : (氏名) : CMOSイメージセンサ画素回路の製造ばらつきに対する電気検査法の検査能力評価, 2016年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]. ... [修士] : (氏名) : 実装基板内メモリICのデータバス断線の電気検査法に関する研究, 2016年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]. ... [修士] : (氏名) : ICの注入電荷量による電流テスト回路に関する研究, 2016年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]. ... [修士] : (氏名) : IC間配線の電気検査のための不良判定しきい値決定法に関する研究, 2016年3月, 橋爪 正樹 [橋爪 正樹, 四柳 浩之, 西尾 芳文]. ...
過去3日以内に登録・変更された情報
（なし）
無効な情報 (1件)
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[課程博士] : (氏名) : Electrical Testing for Open Lead Detection of Logic ICs, 2010年3月, 橋爪 正樹 [島本 隆, 西尾 芳文, 四柳 浩之].
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