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[出資団体](研究費を出資した団体(文部省,財団など))による分類 : | ||||||||||||||||||||
[予算名](研究費の名称(科学研究費補助金など))による分類 : | ||||||||||||||||||||
[期間](予算執行期間)による分類
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高橋 寛, 樋上 喜信, 四柳 浩之 : 独立行政法人日本学術振興会, 科学研究費補助金・基盤研究(C), プリシリコンテストとポストシリコンテストを併用したタイミング不良診断法の開発, 2013年4月〜2016年3月..[研究者] | ... | |||
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四柳 浩之 : 独立行政法人日本学術振興会, 科学研究費補助金・基盤研究(C), 遅延付加・検出回路を組み込んだ遅延故障検査容易化回路の設計と評価, 2012年4月〜2015年3月..[研究者] | ... | |||
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四柳 浩之 : 独立行政法人日本学術振興会, 科学研究費補助金・基盤研究(C), 3次元積層チップ間接続の異常遅延検出のための検査容易化回路の設計手法の開発, 2015年4月〜2018年3月..[研究者] | ... | |||
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四柳 浩之 : 大学院ソシオテクノサイエンス研究部, 平成18年度大学院ソシオテクノサイエンス研究部研究プロジェクト・(予算名2), 多層配線LSIの断線故障検査に関する研究, 2006年4月〜2007年3月..[研究者] | ... | |||
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四柳 浩之 : 独立行政法人日本学術振興会, 科学研究費補助金・基盤研究(C), 積層チップ間の故障テスト用信号生成・供給回路設計手法の開発, 2018年4月〜2021年3月..[研究者] | ... | |||
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橋爪 正樹, 四柳 浩之 : 独立行政法人 科学技術振興機構, 科学研究費補助金・基盤研究(B), ICチップの入出力信号線の弛張発振回路を用いた破断予兆検出法に関する研究, 2017年4月〜2021年3月..[研究者] | ... | |||
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橋爪 正樹, 四柳 浩之 : 日立製作所, 受託研究・(予算名2), 配線及びバンプ接続部の破断予兆検出回路の開発, 2015年6月〜2016年3月..[研究者] | ... |
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