『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
〔閲覧〕【賞】
--- テーブル「賞」（教職員，学生または組織の受賞の情報）は教職員，学生または組織が受賞した賞を登録するテーブルです．
登録情報
抽出条件
| [組織]= |  徳島大学
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|---|---|---|
| PERM= | 橋爪 正樹
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登録情報の数
有効な情報: 12件 + 無効な情報: 0件 = 全ての情報: 12件
全ての有効な情報 (12件)
条件追加
[カテゴリ](賞のカテゴリ)による分類 : | ||||||||||||||||||||
[組織](受賞者の所属する組織)による分類 :
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[年月日](受賞した年月日)による分類
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抽出結果のリスト
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排列順: 項目表示: 橋爪 正樹, 近藤 将平, 四柳 浩之 : Possibility of Logical Error Caused by Open Defects in TSVs, Best Paper Award, International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC), 2011年6月..[受賞者] ... 岡田 靖彦, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : テストデータ量削減のための反転信号シフト型 BAST 構成とテストパターン生成法, 第153回システムLSI設計技術研究会優秀発表学生賞, 社団法人情報処理学会 システムLSI設計技術研究会, 2012年8月..[受賞者] ... 藤谷 和依, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 樋上 喜信, 高橋 寛 : 論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減, 第3回研究会若手優秀講演賞, 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会, 2016年11月..[受賞者] ... 河塚 信吾, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 微小遅延故障テストのためのTDC組込み型スキャンFFの設計について, システムLSI設計技術研究会2016年度 優秀発表学生賞, 情報処理学会 SLDM研究会, 2017年8月..[受賞者] ... 神原 東風 : IDDT出現時間に基づく検査法の断線故障検出能力向上のための設計, 第181回SLDM研究会 優秀発表学生賞, 情報処理学会 システムとLSIの設計技術研究会, 2018年8月..[指導教員] ... Shyue-Kung Lu, Shu-Chi Yu, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 : Fault-aware page address remapping techniques for enhancing yield and reliability of flash memories, Best Paper Award, The 26th IEEE Asian Test Symposium, 2018年10月..[受賞者] ... 平井 智士, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : TDC組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部のリオーダによる配線長の低減, 第5回研究会若手優秀講演賞, 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会, 2018年12月..[受賞者] ... 河野 潤平, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : On Design and Evaluation of a TDC Cell Embedded in the Boundary Scan Circuit for Delay Fault Testing of 3D ICs, Best Paper Award, International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC), 2019年6月..[受賞者] ... 神田 道也, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : Open Defect Detection Not Utilizing Boundary Scan Flip-Flops in Assembled Circuit Boards, IEEE CASS Shikoku Chapter Best Paper Award, IEEE CASS Shikoku Chapter, 2022年2月..[受賞者] ... 片山 翔太, 有元 康滋, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 遅延故障検査容易化バウンダリスキャンにおける観測対象判別回路による検査時間短縮, 2022アカデミックプラザ賞, 社団法人 エレクトロニクス実装学会, 2022年6月..[受賞者] ... 大濱 瑛祐, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 遅延検査容易化設計を用いるPUF回路の周囲温度による動作性能評価, 第10回研究会最優秀講演賞, 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会, 2023年11月..[受賞者] ... 鶴岡 蒼久, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 待機状態IC の入力配線検査を行うバウンダリスキャン用コントローラの試作, 2024アカデミックプラザ賞, 社団法人 エレクトロニクス実装学会, 2024年6月..[受賞者] ...
過去3日以内に登録・変更された情報
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