EDB [賞] (10016)

抽出条件

[組織]=	(未定義)
PERM=	橋爪正樹

登録情報の数

有効な情報: 9件 + 無効な情報: 0件 = 全ての情報: 9件

全ての有効な情報 (9件)
(見出し語句検索:)

条件追加

[カテゴリ](賞のカテゴリ)による分類 :

[年月日](受賞した年月日)による分類

○ 年による分類 :										○ 年度による分類 :

抽出結果のリスト

排列順:		項目表示:
	大谷航平, 菅大介, 四柳浩之, 橋爪正樹 : 電荷注入回数によるIC間配線の試験回路, 第31回エレクトロニクス実装学会春季講演大会研究奨励賞, 社団法人エレクトロニクス実装学会, 2013年3月..[受賞者]	...
	南原康亮, 四柳浩之, 橋爪正樹 : Threshold Value Estimation of Electrical Interconnect Tests with Scan FFs, Young Researcher Award, IEEE CPMT Symposium Japan 2014, 2014年11月..[受賞者]	...
	橋爪正樹 : (テーマ), グローバル大学院工学教育賞, 国際連携教育開発センター, 2016年3月..[受賞者]	...
	橋爪正樹, Shyue-Kung Lu, Cheng-Ju Tsai : Enhanced Built-In Self-Repair Techniques for Improving Fabrication Yield and Reliability of Embedded Memories, IEEE CASS Shikoku Chapter Best Paper Award, IEEE CASS Shikoku Chapter, 2017年9月..[受賞者]	...
	大谷航平, 菅大介, 四柳浩之, 橋爪正樹 : 電荷注入回数によるIC間配線の試験回路, 第31回エレクトロニクス実装学会春季講演大会, 社団法人エレクトロニクス実装学会, 2018年3月..[受賞者]	...
	橋爪正樹, Shyue-Kung Lu, Li Tsu-Lin, Chen Jiann-Liang : Address Scrambling and Data Inversion Techniques for Yield Enhancement of NROM-Based ROMS, IEEE CASS Shikoku Chapter Best Paper Award, IEEE CASS Shikoku Chapter, 2019年2月..[受賞者]	...
	曽根田伴奈 : Electrical Field Test Method of Resistive Open Defects between Dies by Quiescent Current through Embedded Diodes, Student Poster Award, The IEEE International 3D Systems Integration Conference 2019, 2019年10月..[指導教員]	...
	Shyue-Kung Lu, Hao-Cheng Jheng, Hao-Wei Lin, 橋爪正樹 : Address Remapping Techniques for Enhancing Fabrication Yield of EmbeddedMemories, 2018 JETTA/TTTC Best Paper Award, IEEE, 2019年11月..[受賞者]	...
	池内康祐 : バウンダリスキャンテスト回路を用いた待機モード時電気試験を可能にするTAPCの開発, 第33回エレクトロニクス実装学会春季講演大会研究奨励賞, 社団法人エレクトロニクス実装学会, 2020年3月..[指導教員]	...

本データベースでは情報の登録，保守作業の分散を主たる目的の一つとしております．したがって，上記にリストアップされている情報の保守は個々の情報の当事者に委ねられます．

ある情報を保守する義務があるかないかは，その情報に対して権限を持っているかどうかで判断してください．もちろん情報の所有者が主に管理しなくてはならないことになりますが，権限を持っている利用者が連帯してその情報の保守を行なう義務を負っていると考えてください．

貴方がどの情報について権限を持っているかは，貴方自身の情報を閲覧してください．

登録情報