『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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登録情報

抽出条件

PERM=閲覧 四柳 浩之 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])

登録情報の数

有効な情報: 15件 + 無効な情報: 0件 = 全ての情報: 15件

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閲覧 閲覧 徳島大学 …(10)
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[年月日](受賞した年月日)による分類
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○ 年度による分類 :

抽出結果のリスト

排列順: 項目表示:
閲覧 四柳 浩之 : (テーマ), THE TEACHER OF THE YEAR, 徳島大学 工学部, 2006年3月..[受賞者] ...
閲覧 四柳 浩之 : (テーマ), THE TEACHER OF THE YEAR, 徳島大学 工学部, 2009年3月..[受賞者] ...
閲覧 橋爪 正樹, 近藤 将平, 四柳 浩之 : Possibility of Logical Error Caused by Open Defects in TSVs, Best Paper Award, International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC), 2011年6月..[受賞者] ...
閲覧 岡田 靖彦, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : テストデータ量削減のための反転信号シフト型 BAST 構成とテストパターン生成法, 第153回システムLSI設計技術研究会優秀発表学生賞, 社団法人情報処理学会 システムLSI設計技術研究会, 2012年8月..[受賞者] ...
閲覧 大谷 航平, 菅 大介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 電荷注入回数によるIC間配線の試験回路, 第31回エレクトロニクス実装学会春季講演大会研究奨励賞, 社団法人 エレクトロニクス実装学会, 2013年3月..[受賞者] ...
閲覧 南原 康亮, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : Threshold Value Estimation of Electrical Interconnect Tests with Scan FFs, Young Researcher Award, IEEE CPMT Symposium Japan 2014, 2014年11月..[受賞者] ...
閲覧 藤谷 和依, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 樋上 喜信, 高橋 寛 : 論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減, 第3回研究会若手優秀講演賞, 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会, 2016年11月..[受賞者] ...
閲覧 河塚 信吾, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 微小遅延故障テストのためのTDC組込み型スキャンFFの設計について, システムLSI設計技術研究会2016年度 優秀発表学生賞, 情報処理学会 SLDM研究会, 2017年8月..[受賞者] ...
閲覧 大谷 航平, 菅 大介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 電荷注入回数によるIC間配線の試験回路, 第31回エレクトロニクス実装学会春季講演大会, 社団法人 エレクトロニクス実装学会, 2018年3月..[受賞者] ...
閲覧 神原 東風 : IDDT出現時間に基づく検査法の断線故障検出能力向上のための設計, 第181回SLDM研究会 優秀発表学生賞, 情報処理学会 システムとLSIの設計技術研究会, 2018年8月..[指導教員] ...
閲覧 Shyue-Kung Lu, Shu-Chi Yu, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 : Fault-aware page address remapping techniques for enhancing yield and reliability of flash memories, Best Paper Award, The 26th IEEE Asian Test Symposium, 2018年10月..[受賞者] ...
閲覧 平井 智士, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : TDC組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部のリオーダによる配線長の低減, 第5回研究会若手優秀講演賞, 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会, 2018年12月..[受賞者] ...
閲覧 河野 潤平, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : On Design and Evaluation of a TDC Cell Embedded in the Boundary Scan Circuit for Delay Fault Testing of 3D ICs, Best Paper Award, International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC), 2019年6月..[受賞者] ...
閲覧 曽根田 伴奈 : Electrical Field Test Method of Resistive Open Defects between Dies by Quiescent Current through Embedded Diodes, Student Poster Award, The IEEE International 3D Systems Integration Conference 2019, 2019年10月..[指導教員] ...
閲覧 池内 康祐 : バウンダリスキャンテスト回路を用いた待機モード時電気試験を可能にするTAPCの開発, 第33回エレクトロニクス実装学会春季講演大会研究奨励賞, 社団法人 エレクトロニクス実装学会, 2020年3月..[指導教員] ...

過去3日以内に登録・変更された情報

(なし)

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