『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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OWN=閲覧 橋爪 正樹

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抽出結果のリスト

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閲覧 橋爪 正樹 : Supply Current Testing for Bridging Faults in Microprocessor Based Sequence Control Circuits, The Most Attractive Visual AWARD WINNER, 8th Electronic Circuits World Convention, 1999年9月. ...
閲覧 大谷 航平, 菅 大介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 電荷注入回数によるIC間配線の試験回路, 第31回エレクトロニクス実装学会春季講演大会研究奨励賞, 社団法人 エレクトロニクス実装学会, 2013年3月. ...
閲覧 南原 康亮, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : Threshold Value Estimation of Electrical Interconnect Tests with Scan FFs, Young Researcher Award, IEEE CPMT Symposium Japan 2014, 2014年11月. ...
閲覧 橋爪 正樹 : (テーマ), グローバル大学院工学教育賞, 国際連携教育開発センター, 2016年3月. ...
閲覧 橋爪 正樹, Shyue-Kung Lu, Cheng-Ju Tsai : Enhanced Built-In Self-Repair Techniques for Improving Fabrication Yield and Reliability of Embedded Memories, IEEE CASS Shikoku Chapter Best Paper Award, IEEE CASS Shikoku Chapter, 2017年9月. ...
閲覧 大谷 航平, 菅 大介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 電荷注入回数によるIC間配線の試験回路, 第31回エレクトロニクス実装学会春季講演大会, 社団法人 エレクトロニクス実装学会, 2018年3月. ...
閲覧 橋爪 正樹, Shyue-Kung Lu, Li Tsu-Lin, Chen Jiann-Liang : Address Scrambling and Data Inversion Techniques for Yield Enhancement of NROM-Based ROMS, IEEE CASS Shikoku Chapter Best Paper Award, IEEE CASS Shikoku Chapter, 2019年2月. ...
閲覧 曽根田 伴奈 : Electrical Field Test Method of Resistive Open Defects between Dies by Quiescent Current through Embedded Diodes, Student Poster Award, The IEEE International 3D Systems Integration Conference 2019, 2019年10月. ...
閲覧 Shyue-Kung Lu, Hao-Cheng Jheng, Hao-Wei Lin, 橋爪 正樹 : Address Remapping Techniques for Enhancing Fabrication Yield of EmbeddedMemories, 2018 JETTA/TTTC Best Paper Award, IEEE, 2019年11月. ...
閲覧 池内 康祐 : バウンダリスキャンテスト回路を用いた待機モード時電気試験を可能にするTAPCの開発, 第33回エレクトロニクス実装学会春季講演大会研究奨励賞, 社団法人 エレクトロニクス実装学会, 2020年3月. ...

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本データベースでは情報の登録,保守作業の分散を主たる目的の一つとしております.したがって,上記にリストアップされている情報の保守は個々の情報の当事者に委ねられます.

ある情報を保守する義務があるかないかは,その情報に対して権限を持っているかどうかで判断してください.もちろん情報の所有者が主に管理しなくてはならないことになりますが,権限を持っている利用者が連帯してその情報の保守を行なう義務を負っていると考えてください.

貴方がどの情報について権限を持っているかは,貴方自身の情報を閲覧してください.

Number of session users = 2, LA = 0.44, Max(EID) = 414435, Max(EOID) = 1118209.