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[組織](特許・実用新案の属する組織)による分類 : | ||||||||||||||||||||
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[年月日](確定年月日)による分類
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橋爪 正樹, 四柳 浩之, 為貞 建臣, 茅原 敏広, 田坂 英司 : ディジタル電子計算機回路の故障検査方法, 特願009177 (1999年1月), (開示), (番号) ((年月日))..[発明者] | ... | |||
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口井 敏匡, 四柳 浩之 : 半導体集積回路,スキャン回路設計方法,テストパターン生成方法,および,スキャンテスト方法, 特願2004-225962 (2004年8月), 特開2006-047013 (2006年2月), (番号) ((年月日))..[発明者] | ... | |||
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橋爪 正樹, 一宮 正博, 四柳 浩之 : 電子回路の断線故障検査法とその検査容易化回路, 特願2006-309430 (2006年11月), 特開2008-122338 (2008年5月), (番号) ((年月日))..[発明者] | ... |
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