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[出願国](出願国または国内,国外,国際の別)による分類 :[出願国](出願国または国内,国外,国際の別)による分類 : | ||||||||||||||||||||
[年月日](確定年月日)による分類
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古川 靖夫, 橋爪 正樹, 一宮 正博, 為貞 建臣 : IDDQ試験装置, (出願) (1999年9月), (開示), (番号) ((年月日))..[発明者] | ... | |||
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古川 靖夫, 一宮 正博, 橋爪 正樹, 為貞 建臣 : LSI試験装置, 特願401987 (2000年12月), (開示), (番号) ((年月日))..[発明者] | ... | |||
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一宮 正博, 橋爪 正樹 : 回路検査装置, 特願2004-099686 (2004年3月), (開示), (番号) ((年月日))..[発明者] | ... | |||
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橋爪 正樹, 一宮 正博 : 電源電流による検査容易化論理回路, 特願2006-112885 (2004年10月), (開示), (番号) ((年月日))..[発明者] | ... | |||
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一宮 正博, 橋爪 正樹 : 論理回路の断線故障の検査装置, 特願2006-114044 (2006年4月), (開示), (番号) ((年月日))..[発明者] | ... | |||
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橋爪 正樹, 一宮 正博, 四柳 浩之 : 電子回路の断線故障検査法とその検査容易化回路, 特願2006-309430 (2006年11月), 特開2008-122338 (2008年5月), (番号) ((年月日))..[発明者] | ... |
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