『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
〔閲覧〕【特許・実用新案】
--- テーブル「特許・実用新案」（特許と実用新案の情報）は教職員が取得(出願・公開中も含む)している特許・実用新案を登録するテーブルです．
登録情報
抽出条件
| REF= |  橋爪 正樹
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登録情報の数
有効な情報: 11件 + 無効な情報: 1件 = 全ての情報: 12件
全ての有効な情報 (11件)
条件追加
[組織](特許・実用新案の属する組織)による分類 :
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[種別](特許・実用新案の区別)による分類 : | ||||||||||||||||||||
[出願国](出願国または国内，国外，国際の別)による分類 :[出願国](出願国または国内，国外，国際の別)による分類 : | ||||||||||||||||||||
[年月日](確定年月日)による分類
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抽出結果のリスト
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排列順: 項目表示: 橋爪 正樹, 為貞 建臣, 田坂 英司, 茅原 敏広 : シーケンス制御機器の故障検査法, 特願313569 (1991年10月), 特開19533 (1994年1月), 特許第2611892号 (1997年2月)..[発明者] ... 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 為貞 建臣, 茅原 敏広, 田坂 英司 : ディジタル電子計算機回路の故障検査方法, 特願009177 (1999年1月), (開示), (番号) ((年月日))..[発明者] ... 古川 靖夫, 橋爪 正樹, 一宮 正博, 為貞 建臣 : IDDQ試験装置, (出願) (1999年9月), (開示), (番号) ((年月日))..[発明者] ... 古川 靖夫, 一宮 正博, 橋爪 正樹, 為貞 建臣 : LSI試験装置, 特願401987 (2000年12月), (開示), (番号) ((年月日))..[発明者] ... 一宮 正博, 橋爪 正樹 : 回路検査装置, 特願2004-099686 (2004年3月), (開示), (番号) ((年月日))..[発明者] ... 橋爪 正樹, 一宮 正博 : 電源電流による検査容易化論理回路, 特願2006-112885 (2004年10月), (開示), (番号) ((年月日))..[発明者] ... 橋爪 正樹, 山達 正明 : 固体撮像装置およびその特性検査方法, 特願2006-032796 (2006年2月), (開示), 特許第3932052号 (2007年3月)..[発明者] ... 一宮 正博, 橋爪 正樹 : 論理回路の断線故障の検査装置, 特願2006-114044 (2006年4月), (開示), (番号) ((年月日))..[発明者] ... 橋爪 正樹, 一宮 正博, 四柳 浩之 : 電子回路の断線故障検査法とその検査容易化回路, 特願2006-309430 (2006年11月), 特開2008-122338 (2008年5月), (番号) ((年月日))..[発明者] ... 橋爪 正樹 : 電子回路の双方向信号線の電気検査法, 特願2013-79766 (2013年4月), (開示), (番号) ((年月日))..[発明者] ... 矢崎 徹, 植松 裕, 池田 康浩, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 伊喜利 勇貴 : 半導体装置，及び半導体集積回路, 特願2017-107547 (2017年5月), 特開2018-206829 (2018年12月), 特許第2017-107547号 (2018年12月)..[発明者] ...
過去3日以内に登録・変更された情報
（なし）
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ある情報を保守する義務があるかないかは，その情報に対して権限を持っているかどうかで判断してください．もちろん情報の所有者が主に管理しなくてはならないことになりますが，権限を持っている利用者が連帯してその情報の保守を行なう義務を負っていると考えてください．
貴方がどの情報について権限を持っているかは，貴方自身の情報を閲覧してください．
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