『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
〔閲覧〕【共同研究】
--- テーブル「共同研究」（学外，他学部との共同研究の情報）は学外・他学部と行なっている共同研究を登録するテーブルです．
登録情報
抽出条件
| [組織]= |  愛媛大学
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|---|---|---|
| PERM= | 徳島大学.大学院ソシオテクノサイエンス研究部.情報ソリューション部門.計算機システム工学 (2006年4月1日〜2016年3月31日)
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登録情報の数
有効な情報: 8件 + 無効な情報: 0件 = 全ての情報: 8件
全ての有効な情報 (8件)
条件追加
[組織](研究者の所属)による分類 :
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[種別](共同研究の種別)による分類 : | ||||||||||||||||||||
[期間](研究期間)による分類
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抽出結果のリスト
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排列順: 項目表示: 計算機システム工学 (橋爪 正樹), 愛媛大学 (高松 雄三), テストチップの製作とその解析に基づく製造容易化のための新故障モデルとそのテスト, 2006年4月〜2008年3月..[組織] ... 愛媛大学 工学部 (高橋 寛, 樋上 喜信), 計算機システム工学 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), 明治大学 (堤 利幸, 山崎 浩二), 半導体理工学研究センター ((@.researcher)), 超高信頼性チップ製造のためのシグナルインテグリティ不良のモデル化およびその故障検査法, 2009年4月〜2010年3月..[組織] ... 愛媛大学 工学部 (高橋 寛, 樋上 喜信), 計算機システム工学 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), 明治大学 (堤 利幸, 山崎 浩二), 半導体理工学研究センター ((@.researcher)), 超高信頼性チップ製造のためのシグナルインテグリティ不良のモデル化およびその故障検査法, 2010年4月〜2011年3月..[組織] ... 愛媛大学 工学部 (高橋 寛, 樋上 喜信), 計算機システム工学 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), 明治大学 (堤 利幸, 山崎 浩二), 半導体理工学研究センター ((@.researcher)), 超高信頼性チップ製造のためのシグナルインテグリティ不良のモデル化およびその故障検査法, 2011年4月〜2012年3月..[組織] ... 計算機システム工学 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), (テーマ), 2011年4月〜2012年3月..[組織] ... 愛媛大学 工学部 (高松 雄三, 高橋 寛, 樋上 喜信), 計算機システム工学 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), 明治大学 (堤 利幸, 山崎 浩二), 半導体理工学研究センター ((@.researcher)), テストチップの製作とその解析に基づく製造容易化設計のための新故障モデルとそのテスト・故障診断に関する研究, 2006年4月〜2007年3月..[組織] ... 愛媛大学 工学部 (高松 雄三, 高橋 寛, 樋上 喜信), 計算機システム工学 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), 明治大学 (堤 利幸, 山崎 浩二), 半導体理工学研究センター ((@.researcher)), テストチップの製作とその解析に基づく製造容易化設計のための新故障モデルとそのテスト・故障診断に関する研究, 2007年4月〜2008年3月..[組織] ... 愛媛大学 工学部 (高松 雄三, 高橋 寛, 樋上 喜信), 計算機システム工学 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), 明治大学 (堤 利幸, 山崎 浩二), 半導体理工学研究センター ((@.researcher)), テストチップの製作とその解析に基づく製造容易化設計のための新故障モデルとそのテスト・故障診断に関する研究, 2008年4月〜2009年3月..[組織] ...
過去3日以内に登録・変更された情報
（なし）
本データベースでは情報の登録，保守作業の分散を主たる目的の一つとしております．したがって，上記にリストアップされている情報の保守は個々の情報の当事者に委ねられます．
ある情報を保守する義務があるかないかは，その情報に対して権限を持っているかどうかで判断してください．もちろん情報の所有者が主に管理しなくてはならないことになりますが，権限を持っている利用者が連帯してその情報の保守を行なう義務を負っていると考えてください．
貴方がどの情報について権限を持っているかは，貴方自身の情報を閲覧してください．
Number of session users = 3, LA = 1.14, Max(EID) = 433834, Max(EOID) = 1154926.