『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
〔閲覧〕【共同研究】
--- テーブル「共同研究」（学外，他学部との共同研究の情報）は学外・他学部と行なっている共同研究を登録するテーブルです．
登録情報
抽出条件
| PERM= |  徳島大学.工学研究科.電気電子工学専攻.電気電子システム講座 (〜2011年3月31日)
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登録情報の数
有効な情報: 15件 + 無効な情報: 0件 = 全ての情報: 15件
全ての有効な情報 (15件)
条件追加
[組織](研究者の所属)による分類 :
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[種別](共同研究の種別)による分類 : | ||||||||||||||||||||
[期間](研究期間)による分類
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抽出結果のリスト
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排列順: 項目表示: 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 大阪学院大学 (樹下 行三), SoCテストに関する研究, 2005年4月〜2007年3月..[組織] ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 首都大学東京 (三浦 幸也), DACの電気的テスト法に関する研究, 2005年4月〜2012年3月..[組織] ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 徳島文理大学 (多田 哲生), 高速プリント配線板での論理信号の伝送特性の解析, 2008年4月〜2010年3月..[組織] ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 香川高等専門学校 (高木 正夫, 小野 安季良, 月本 功), ICのリード浮きの電気的検査法に関する研究, 2005年4月〜2011年3月..[組織] ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 徳島文理大学 (多田 哲生), プリント配線回路の配線不良検査法に関する研究, 2011年4月〜2012年3月..[組織] ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 高松工業高等専門学校 (高木 正夫, 小野 安季良, 月本 功), プリント配線回路の半田付け不良の電気的検査法に関する研究, 2011年4月〜2012年3月..[組織] ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 徳島文理大学 (多田 哲生), 3次元実装ICの断線欠陥解析に関する研究, 2012年4月〜2013年3月..[組織] ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 国立台湾科技大学 (Lu Shyue-Kung), メモリICテストに関する研究, 2012年9月〜2013年3月..[組織] ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), Florida Atlantic University (Roth S. Zvi), 3次元実装ICテストに関する研究, 2012年9月〜2017年3月..[組織] ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 高松工業高等専門学校 (高木 正夫, 小野 安季良, 月本 功), プリント配線回路の半田付け不良の電気的検査法に関する研究, 2012年4月〜2013年3月..[組織] ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), 国立台湾科技大学 (Lu Shyue-Kung), 3次元メモリICテストと組み込みテスト回路に関する研究, 2014年7月〜2015年3月..[組織] ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), 国立台湾科技大学 (Lu Shyue-Kung), 3次元メモリICテストと組み込みテスト回路に関する研究, 2015年7月〜2016年6月..[組織] ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 徳島文理大学 (多田 哲生), 秋田大学 (横山 洋之), 3次元積層メモリICの電気検査法に関する研究, 2014年4月〜2017年3月..[組織] ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), 国立台湾科技大学 (Lu Shyue-Kung), 秋田大学 (横山 洋之), 徳島文理大学 (多田 哲生), 3次元積層ICのテスト法と組み込みテスト回路に関する研究, 2017年4月〜2018年3月..[組織] ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), 国立台湾科技大学 (Lu Shyue-Kung), 秋田大学 (横山 洋之), 3次元積層ICのテスト法と組み込みテスト回路に関する研究, 2018年4月〜2019年3月..[組織] ...
過去3日以内に登録・変更された情報
（なし）
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