『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
〔閲覧〕【共同研究】
--- テーブル「共同研究」（学外，他学部との共同研究の情報）は学外・他学部と行なっている共同研究を登録するテーブルです．
登録情報
抽出条件
| OWN= |  橋爪 正樹
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登録情報の数
有効な情報: 29件 + 無効な情報: 4件 = 全ての情報: 33件
全ての有効な情報 (29件)
条件追加
[組織](研究者の所属)による分類 :
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[種別](共同研究の種別)による分類 : | ||||||||||||||||||||
[期間](研究期間)による分類
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抽出結果のリスト
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排列順: 項目表示: 計算機システム工学 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), 政府 文部科学省 ((@.researcher)), LEDライフ産業応用基盤技術開発研究, 2010年5月〜2011年3月. ... 計算機システム工学 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), 政府 文部科学省 ((@.researcher)), LEDライフ産業応用基盤技術開発研究, 2011年4月〜2012年3月. ... 計算機システム工学 (橋爪 正樹), 愛媛大学 (高松 雄三), テストチップの製作とその解析に基づく製造容易化のための新故障モデルとそのテスト, 2006年4月〜2008年3月. ... 愛媛大学 工学部 (高橋 寛, 樋上 喜信), 計算機システム工学 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), 明治大学 (堤 利幸, 山崎 浩二), 半導体理工学研究センター ((@.researcher)), 超高信頼性チップ製造のためのシグナルインテグリティ不良のモデル化およびその故障検査法, 2011年4月〜2012年3月. ... 工学部 電気電子工学科 知能電子回路講座 (橋爪 正樹), 徳島文理大学 (小山 健), メモリICの電流テスト法に関する研究, 1995年1月. ... 工学部 電気電子工学科 知能電子回路講座 (橋爪 正樹), デルフト工業大学 (Goor de A.J.van), Memory IC Testing, 1995年3月. ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 大阪学院大学 (樹下 行三), SoCテストに関する研究, 2005年4月〜2007年3月. ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 首都大学東京 (三浦 幸也), DACの電気的テスト法に関する研究, 2005年4月〜2012年3月. ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 徳島文理大学 (多田 哲生), 高速プリント配線板での論理信号の伝送特性の解析, 2008年4月〜2010年3月. ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 香川高等専門学校 (高木 正夫, 小野 安季良, 月本 功), ICのリード浮きの電気的検査法に関する研究, 2005年4月〜2011年3月. ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 徳島文理大学 (多田 哲生), プリント配線回路の配線不良検査法に関する研究, 2011年4月〜2012年3月. ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 高松工業高等専門学校 (高木 正夫, 小野 安季良, 月本 功), プリント配線回路の半田付け不良の電気的検査法に関する研究, 2011年4月〜2012年3月. ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 徳島文理大学 (多田 哲生), 3次元実装ICの断線欠陥解析に関する研究, 2012年4月〜2013年3月. ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 国立台湾科技大学 (Lu Shyue-Kung), メモリICテストに関する研究, 2012年9月〜2013年3月. ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), Florida Atlantic University (Roth S. Zvi), 3次元実装ICテストに関する研究, 2012年9月〜2017年3月. ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 高松工業高等専門学校 (高木 正夫, 小野 安季良, 月本 功), プリント配線回路の半田付け不良の電気的検査法に関する研究, 2012年4月〜2013年3月. ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), 国立台湾科技大学 (Lu Shyue-Kung), 3次元メモリICテストと組み込みテスト回路に関する研究, 2014年7月〜2015年3月. ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), 国立台湾科技大学 (Lu Shyue-Kung), 3次元メモリICテストと組み込みテスト回路に関する研究, 2015年7月〜2016年6月. ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 徳島文理大学 (多田 哲生), 秋田大学 (横山 洋之), 3次元積層メモリICの電気検査法に関する研究, 2014年4月〜2017年3月. ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), 国立台湾科技大学 (Lu Shyue-Kung), 秋田大学 (横山 洋之), 徳島文理大学 (多田 哲生), 3次元積層ICのテスト法と組み込みテスト回路に関する研究, 2017年4月〜2018年3月. ... 電気電子システム講座 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), 国立台湾科技大学 (Lu Shyue-Kung), 秋田大学 (横山 洋之), 3次元積層ICのテスト法と組み込みテスト回路に関する研究, 2018年4月〜2019年3月. ... 東京都立大学 (三浦 幸也), ICの電流テスト回路に関する研究, 2004年4月〜2006年3月. ... 徳島文理大学 (多田 哲生, 小山 健), ウエーブレット変換の電流テストへの応用に関する研究, 2003年4月〜2006年3月. ... 徳島文理大学 (多田 哲生), プリント配線板の論理信号の高速伝送特性の解析, 2008年4月〜2010年3月. ... 三浦工業株式会社 (田坂 英司), フェールセーフ性の評価法に関する研究, 2003年4月〜2005年3月. ... 日立製作所研究開発グループ ((@.researcher)), 配線及びバンプ接続部の破断予兆検出回路の開発, 2015年6月〜2016年3月. ... 日立製作所研究開発グループ ((@.researcher)), 配線及びバンプ接続部の破断予兆検出回路の開発, 2015年6月〜2016年3月. ... 香川高等専門学校 (高木 正夫, 小野 安季良, 月本 功), ICのリード浮きの電気的検査法に関する研究, 2005年4月〜2010年3月. ... Florida Atrantic University (Zvi Roth), Testable Design of 3D Stacked IC and Assembled PCB, 2014年4月〜2017年3月. ...
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（なし）
無効な情報 (4件)
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工学部 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), 国立台湾科技大学 (Lu Shyue-Kung), 3次元メモリICテストと組み込みテスト回路に関する研究, 2014年7月〜2015年6月. 工学部 電気電子工学科 知能電子回路講座 (橋爪 正樹), 徳島文理大学 (小山 健, 多田 哲生), 論理ICの電流テスト法に関する研究, 2004年4月〜2007年3月. 工学部 電気電子工学科 知能電子回路講座 (橋爪 正樹), 東京都立大学 (三浦 幸也), 論理ICの電流テスト回路に関する研究, 2004年4月〜2007年3月. 工学部 電気電子工学科 知能電子回路講座 (橋爪 正樹), 東京都立大学 (三浦 幸也), ミックスドシグナルICの電流テスト容易化設計法に関する研究, 2005年4月〜2008年3月.
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