『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
〔閲覧〕【著作】
--- テーブル「著作」（著作（著書，論文，レター，国際会議など））は研究業績にかかる著作（著書，論文，レター，国際会議など）を登録するテーブルです．
登録情報
抽出条件
| REF= |  徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野 (2017年4月1日〜)
|
|---|
登録情報の数
有効な情報: 99件 + 無効な情報: 0件 = 全ての情報: 99件
全ての有効な情報 (99件)
条件追加
[種別](著作の種別)による分類 : | ||||||||||||||||||||
[言語](著作の言語)による分類 : | ||||||||||||||||||||
[カテゴリ](著作のカテゴリ)による分類 : | ||||||||||||||||||||
[共著種別](共著の種別)による分類 : | ||||||||||||||||||||
[学究種別](著作の学究種別)による分類 : | ||||||||||||||||||||
[組織](著作の帰属する組織)による分類 :
| ||||||||||||||||||||
[年月日](発行年月日)による分類
| ||||||||||||||||||||
抽出結果のリスト
-
排列順: 項目表示: Yoshifumi Nishio : Oscillator Circuits; Frontiers in Design, Analysis and Applications, Institute of Engineering and Technology (IET), London, Nov. 2016..[組織] ... Yoko Uwate and Yoshifumi Nishio : Coupled Oscillator Networks with Frustration, --- Oscillator Circuits; Frontiers in Design, Analysis and Applications, Yoshifumi Nishio (Ed.), pp. 163-181 ---, Institute of Engineering and Technology (IET), London, Nov. 2016..[組織] ... Yoshifumi Nishio : Complex Phenomena in Coupled Chaotic Circuits, Invited Lecture at Universiti Putra Malaysia, Dec. 2016..[組織] ... Yoshifumi Nishio : Regional and Local Activities in CASS, 2016 CAS Workshop in Malaysia, Dec. 2016..[組織] ... Yoshifumi Nishio : Regional Activities and Membership Development in IEEE Circuits and Systems Society, 2016 CAS Workshop in Vietnam, Dec. 2016..[組織] ... Yoshifumi Nishio : Synchronization and Frustration in Coupled Oscillatory Circuits, Invited Lecture at National Cheng Kung University, July 2017..[組織] ... Yoshifumi Nishio : Synchronization and Frustration in Coupled Oscillatory Circuits, Invited Lecture at Mahanakorn University of Technology, Sep. 2017..[組織] ... Yoshifumi Nishio and Yoko Uwate : Enhance research scope in participating in IEEE activities and study abroad, Invited Lecture at National Cheng Kung University, Oct. 2017..[組織] ... Yoshifumi Nishio : Sharing Session with IEEE Journal Editors, Invited Panelist at PrimeAsia'17, Nov. 2017..[組織] ... Yoshifumi Nishio : Synchronization and Frustration in Coupled Oscillatory Circuits, Invited Lecture at South China University of Technology, Jan. 2018..[組織] ... Yoshifumi Nishio : Synchronization and Frustration in Coupled Oscillatory Circuits, Invited Lecture at Shenzhen University, Feb. 2018..[組織] ... Yoshifumi Nishio and Yoko Uwate : Frustration and Amplitude Death in Coupled Oscillatory Circuits, Invited Lecture at Chongqing University of Post and Telecommunications, May 2018..[組織] ... Toshinori Hosokawa, Morito Niseki, Masayoshi Yoshimura, Hiroshi Yamazaki, Masayuki Arai, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume : A Sequentially Untestable Fault Identification Method Based on n-Bit State Cube Justification, 24th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, Spain, July 2018..[組織] ... Yoshifumi Nishio and Yoko Uwate : Synchronization of Two Different Hierarchical Networks of Chaotic Circuits, Invited Lecture at National Cheng Kung University, July 2018..[組織] ... Yoshifumi Nishio and Yoko Uwate : Nonlinear Methods to Analyze Bio-Signals, Invited Lecture at Ajou University ITRC Workshop, Nov. 2018..[組織] ... 近藤 優太郎, 宋 天, 島本 隆 : HEVCイントラ予測残差におけるDC係数推定アルゴリズムに関する研究, 電子情報通信学会技術研究報告, Vol.118, No.501, 159-163, 2019年3月..[組織] ... 李 敏, 宋 天, 島本 隆 : HEVCイントラ予測における原画素を用いた高速処理アルゴリズム, 電子情報通信学会総合大会講演論文集, No.D-11-3, 2019年3月..[組織] ... 叶 高駿, 宋 天, 島本 隆 : 画面間予測におけるクラウドベース参照画像選択手法, 電子情報通信学会総合大会講演論文集, No.D-20-6, 2019年3月..[組織] ... Yoko Uwate and Yoshifumi Nishio : Synchronization of Two Different Hierarchical Networks of Chaotic Circuits, Invited Lecture at National Cheng Kung University, April 2019..[組織] ... Yoko Uwate and Yoshifumi Nishio : Clustering Phenomena in Coupled Oscillatory Systems Inspired by Brain Networks with Different Frequency, Invited Lecture at IEEE CASS Tainan Chapter, April 2019..[組織] ... Yoko Uwate and Yoshifumi Nishio : Time Series Analysis of Neurons and Visualization of Network Characteristics, Invited Lecture at National Cheng Kung University, April 2019..[組織] ... 中西 遼太郎, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 樋上 喜信, 高橋 寛 : 機械学習の異常検知による半断線故障判別法における隣接線信号遷移パターンの評価について, 第81回FTC研究会資料, 2019年7月..[組織] ... 宮谷 康希, 神田 道也, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, Shyue-Kung Lu : オフセットキャンセル型コンパレータを用いた実装基板回路の静的電源電流による断線レベル検出の可能性調査, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 78, 2019年9月..[組織] ... 石原 健, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 : 電荷注入量に基づく検査法による差動増幅回路の抵抗断線検出可能性調査, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 79, 2019年9月..[組織] ... 松本 悠汰, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 : 電荷注入量による IC 内断線不良検出のための電荷注入開始時刻制御回路, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 80, 2019年9月..[組織] ... 西川 拓人, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : パス順位比較を用いる半断線故障検査法に対する実測によるチップ間ばらつきの影響調査, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 82, 2019年9月..[組織] ... 長田 奏美, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 検査容易化設計手法を用いた複数検査対象経路の同時選択による検査時間の削減, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 83, 2019年9月..[組織] ... 中西 健人, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : パス順位比較に用いる PFD の遅延分解能調査, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 84, 2019年9月..[組織] ... 河野 潤平, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : TDC 組込み型バウンダリスキャンにおけるバウンダリスキャンセルのスタンダードセル設計と評価, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 85, 2019年9月..[組織] ... Hanna Soneda, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu : Electrical Field Test Method of Resistive Open Defects between Dies by Quiescent Currents through Embedded Diodes, Proc. of The IEEE 2019 International 3D Systems Integration Conference, P4022-1-P4022-5, Sendai, Oct. 2019..[組織] ... Toshiaki Satoh, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume : On Delay Elements in Boundary Scan Cells for Delay Testing of 3D IC Interconnection, Proc. of The IEEE 2019 International 3D Systems Integration Conference, P4023-1-P4023-4, Sendai, Oct. 2019..[組織] ... Shyue-Kung Lu, Shu-Chi Yu, Chun-Lung Hsu, Chi-Tien Sun, Masaki Hashizume and Hiroyuki Yotsuyanagi : Fault-Aware Dependability Enhancement Techniques for Flash Memories, IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Vol.28, No.3, 634-645, 2020..[組織] ... 知野 遥香, 菊池 愁也, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : TDC 組込み型バウンダリスキャンを用いる信号遅延監視システムの検討, 第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会, 4C1-04-1-4C1-04-3, 2020年3月..[組織] ... 長田 奏美, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 遅延故障検査容易化設計の同時観測経路の選択によるテスト時間短縮, 第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会, 4C1-01-1-4C1-01-3, 2020年3月..[組織] ... 山崎 紘史, 石山 悠太, 松田 竜馬, 細川 利典, 吉村 正義, 新井 雅之, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法, 電子情報通信学会技術研究報告, Vol.119, No.443, 215-220, 2020年3月..[組織] ... Kanda Michiya, Masaki Hashizume, Ali Ashikin Binti Fara, Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu : Open Defect Detection Not Utilizing Boundary Scan Flip-Flops in Assembled Circuit Boards, IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology, Vol.10, No.5, 895-907, 2020..[組織] ... 牧野 紘史, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 3D ICの検査容易化設計における遅延故障検査用ダイ選択回路の開発, 電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集, 52, 2020年9月..[組織] ... 出口 祥大, 松本 悠汰, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, Shyue-Kung Lu : 電荷注入量によるCMOS IC内断線の実験による検出可能性調査, 電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集, 53, 2020年9月..[組織] ... 奥本 裕也, 曽根田 伴奈, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, Shyue-Kung Lu : 電流テストによるダイ間断線検出のためのpMOSのオン抵抗値を用いた断線抵抗値の推定, 電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集, 54, 2020年9月..[組織] ... 大寺 佑都, 硲 文弥, 伊喜利 勇貴, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, Shyue-Kung Lu : アナログ素子で構成する弛緩発振器によるCMOS IC内温度測定, 電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集, 55, 2020年9月..[組織] ... 内藤 優樹, 島本 隆, 宋 天, 片山 貴文 : 固定アウトラインでの再帰的分割法を用いたモジュールの配置に関する研究, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, No.1-5, 1, 2020年9月..[組織] ... 脇山 大毅, 島本 隆, 宋 天, 片山 貴文 : 遺伝的アルゴリズムを用いたLSIにおける面積と電力密度のトレードオフ最適化に関する研究, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, No.1-6, 1, 2020年9月..[組織] ... 大上 剛, 片山 貴文, 宋 天, 島本 隆 : InstaGANを用いた学習ライブラリ構築に関する研究, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, No.15-8, 1, 2020年9月..[組織] ... 中島 快人, 片山 貴文, 宋 天, 島本 隆 : 昼夜変換画像による夜間物体検出精度向上に関する研究, 画像符号化シンポジウム(PCSJ2020), No.P1-D-1, 2020年11月..[組織] ... 大上 剛, 宋 天, 片山 貴文, 島本 隆 : InstaGANを用いた学習ライブラリ構築に関する研究, 画像符号化シンポジウム(PCSJ2020), No.P2-D-1, 2020年11月..[組織] ... 北脇 郁弥, 片山 貴文, 宋 天, 島本 隆 : VVCにおける特徴マップを応用した色差成分予測手法に関する研究, 画像符号化シンポジウム(PCSJ2020), No.P3-A-1, 2020年11月..[組織] ... Kanami Nagata, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume : Test Time Reduction of Small Delay Testing for Scan Design with Embedded TDC, the 21st IEEE Workshop on RTL and High Level Testing, Online, Nov. 2020..[組織] ... Yuki Ikiri, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroshi Yokoyama and Shyue-Kung Lu : Recovery of Defective TSVs with A Small Number of Redundant TSVs in 3D Stacked ICs, the 21st IEEE Workshop on RTL and High Level Testing, Online, Nov. 2020..[組織] ... 四柳 浩之, バウンダリスキャン研究会 : バウンダリスキャン設計の現状と展望, エレクトロニクス実装学会誌, Vol.24, No.1, 96-98, 2021年1月..[組織] ... 福田 康介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 微小遅延故障検査容易化設計用テストクロック制御回路の検討, 第35回エレクトロニクス実装学会春季講演大会, 18B2-01-1-18B2-01-4, 2021年3月..[組織] ... 有元 康滋, 牧野 紘史, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : TDC組込み型バウンダリスキャンの観測セル部分選択による検査時間削減について, 第35回エレクトロニクス実装学会春季講演大会, 18B2-02-1-18B2-02-4, 2021年3月..[組織] ... 田村 佑馬, 片山 貴文, 宋 天, 島本 隆 : JetsonXavierを用いた水中画像補正に関する研究, 人工知能学会全国大会(JSAI2021), No.2Yin5-21, 2021年6月..[組織] ... 萬谷 恒太, 片山 貴文, 宋 天, 島本 隆 : 機械学習を用いた水中深度推定に関する研究, 人工知能学会全国大会(JSAI2021), No.2Yin5-12, 2021年6月..[組織] ... 田中 就一郎, 片山 貴文, 宋 天, 島本 隆 : 教育用配信システムにおけるスクリーンコンテンツ符号化ツール選択手法に関する研究, 人工知能学会全国大会(JSAI2021), No.2Xin5-12, 2021年6月..[組織] ... 澤田 卓弥, 片山 貴文, 宋 天, 島本 隆 : パノラマ映像における GANを用いた雨除去に関する研究, 人工知能学会全国大会(JSAI2021), No.2Yin5-17, 2021年6月..[組織] ... 清水 拓一朗, 片山 貴文, 宋 天, 島本 隆 : フロアプラン設計のための遺伝的アルゴリズムによる配置最適化に関する研究, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, No.1-19, 1, 2021年9月..[組織] ... 青木 宏曉, 片山 貴文, 宋 天, 島本 隆 : 機械学習を用いた次世代画面内符号化技術に関する研究, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, No.13-12, 1, 2021年9月..[組織] ... 井川 将太, 片山 貴文, 宋 天, 島本 隆 : 水中画像の色補正方法に関する研究, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, No.13-13, 1, 2021年9月..[組織] ... 濱田 雄大, 片山 貴文, 宋 天, 島本 隆 : 動画像における機械学習による長期参照画像生成に関する研究, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, No.13-14, 1, 2021年9月..[組織] ... 池田 直樹, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 積層型 CMOS イメージセンサの接続検査における検査容易化画素回路の適用について, 電子情報通信学会技術研究報告, Vol.FIIS21, No.546, 1-6, 2021年10月..[組織] ... 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : ディレイテスト可能なバウンダリスキャン設計手法, エレクトロニクス実装学会誌, Vol.24, No.7, 663-667, 2021年..[組織] ... Yoshifumi Nishio : Frustrated Oscillatory Network with Stochastic Coupling, Invited Lecture at City Univertsity of Hong Kong, China, Nov. 2021..[組織] ... Hiroyuki Yotsuyanagi, Kohji Arimoto, Koji Makino and Masaki Hashizume : Scan Shift Reduction in Delay Testing using Bounary Scan with Embedded TDC, the 22nd IEEE Workshop on RTL and High Level Testing, Online, Nov. 2021..[組織] ... 原 宏輔, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 電荷注入量に基づく電気検査法におけるスキャン回路を考慮する検査入力制御, 第84回FTC研究会資料, 2022年1月..[組織] ... 牧野 紘史, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 近似演算回路を用いた耐故障設計における遅延故障用テストパターン生成について, 電子情報通信学会技術研究報告, Vol.121, No.388, 39-44, 2022年3月..[組織] ... 大濱 瑛祐, 知野 遥香, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 遅延検査容易化回路のPUFへの適用可能性評価, 電子情報通信学会技術研究報告, Vol.121, No.388, 24-29, 2022年3月..[組織] ... 片山 翔太, 有元 康滋, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : TDC組込み型バウンダリスキャンの遅延信号観測対象判別回路の設計, 第36回エレクトロニクス実装学会春季講演大会, 215-218, 2022年3月..[組織] ... 大手 直樹, 片山 貴文, 宋 天, 島本 隆 : ドローン映像における高精度小数画素精度動き補償フィルタ, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), No.13-25, 1, 2022年9月..[組織] ... 今田 純暉, 片山 貴文, 宋 天, 島本 隆 : 顕著性マップに基づく再学習用データセット厳選アルゴリズム, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), No.15-14, 1, 2022年9月..[組織] ... 原 宏輔, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : チャージポンプを用いた断線検出法に対する検査入力が与える影響調査, 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), (号), 10-1, 2022年9月..[組織] ... 稲毛 友哉, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 半断線故障と遅延故障検出用テストパターンの組合せについて, 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), (号), 10-2, 2022年9月..[組織] ... 川野 航生, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : TDCBS 内蔵 IC と非 JTAG デバイス間の半断線故障検査法について, 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), (号), 10-3, 2022年9月..[組織] ... Masao Ohmatsu, Fumiya Sako, Ikiri Yuki, Hiroyuki Yotsuyanagi, Lu Shyue-Kung and Masaki Hashizume : Detectability of Open Defects at Interconnects between Dies in 3D Stacked ICs with Relaxation Oscillators, Proc. of IEEE CPMT Symposium Japan 2022, 94-95, Kyoto, Nov. 2022..[組織] ... 大濱 瑛祐, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 遅延検査容易化設計を用いる PUF 回路の周囲温度による動作性能調査, 電子情報通信学会技術研究報告, Vol.122, No.285, 156-161, 2022年11月..[組織] ... 高見 圭悟, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 3次元積層ICに実装した遅延検査容易化回路によるTSV検査能力評価, 電子情報通信学会技術研究報告, Vol.122, No.285, 162-167, 2022年11月..[組織] ... 東海 翔午, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 近似演算を用いる乗算器に対するテストパターン削減について, 電子情報通信学会技術研究報告, Vol.122, No.285, 25-30, 2022年11月..[組織] ... Ohmatsu Masao, Yuto Ohtera, Yuki Ikiri, Hiroyuki Yotsuyanagi, Shyue-Kung Lu and Masaki Hashizume : Enhanced Interconnect Test Method for Resistive Open Defects in Final Tests with Relaxation Oscillators, Proc.of IEEE 31st Asian Test Symposium, 49-53, (都市), Nov. 2022..[組織] ... 細見 駿太, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 電圧 - 遅延セルを用いる積層型イメージセンサの電気的断線検出回路の設計について, 第86回FTC研究会資料, 2023年1月..[組織] ... 四柳 浩之 : チップ間接続の半断線検出のための検査容易化設計手法, エレクトロニクス実装学会誌, Vol.26, No.2, 198-202, 2023年..[組織] ... 有元 康滋, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 待機モード IC からの配線テスト可能なバウンダリスキャン設計についての検討, 第37回エレクトロニクス実装学会春季講演大会, (巻), (号), 6-9, 2023年3月..[組織] ... 田中 衞, 西尾 芳文, 丹治 裕一, 関屋 大雄, 萬代 雅希 : 機械学習と回路, --- 脳回路の実現に向けて ---, 株式会社 コロナ社, 東京, 2023年5月..[組織] ... Miki Hayato, Eisuke Ohama, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume : Evaluation of a PUF Embedded in the Delay Testable Boundary Scan Circuit, Proc. of 2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC), 896-901, Cheju, June 2023..[組織] ... Shogo Tohkai, Daichi Akamatsu, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume : On Test Pattern Generation Method for an Approximate Multiplier Considering Acceptable Faults, Proc. 2023 IEEE International Test Conference in Asia, 1-6, Matsue, Sep. 2023..[組織] ... Hiroyuki Yotsuyanagi : On the application of boundary scan design with embedded time-to-digital converter to 3D stacked IC, Proc. 2023 IEEE International Test Conference in Asia, Matsue, Sep. 2023..[組織] ... 野依 厚介, 片山 貴文, 宋 天, 島本 隆 : 水中音響画像変換における CycleGAN を用いた高精度 3D マッピング, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), (号), 1, 2023年9月..[組織] ... 有元 康滋, 四柳 浩之, 奥本 裕也, 宮谷 康希, 橋爪 正樹 : 待機モード IC の配線検査可能なバウンダリスキャンの動作検証, 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集, 10-12, 2023年9月..[組織] ... 小松原 滉人, 大松 正男, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : オフセットキャンセル型コンパレータ内インバータゲートの増幅度の温度依存性, 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集, 10-13, 2023年9月..[組織] ... 四柳 浩之 : 3D-ICのテスト技術, エレクトロニクス実装学会誌, Vol.26, No.7, 669-674, 2023年..[組織] ... 赤松 大地, 東海 翔午, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 切り捨てビットを考慮する近似乗算器用BIST回路の面積削減について, 電子情報通信学会技術研究報告, Vol.123, No.260, 156-161, 2023年11月..[組織] ... 浅川 毅, 四柳 浩之, 土屋 秀和 : Verilog HDLで学ぶコンピュータアーキテクチャ, 株式会社 コロナ社, (都市), 2024年2月..[組織] ... 吉村 俊哉, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 半断線故障検査容易化設計のFPGAへの実装に関する検討, 第38回エレクトロニクス実装学会春季講演大会, 218-221, 2024年3月..[組織] ... 四柳 浩之 : 3次元積層チップの実装テストとテスト容易化設計, 電気学会全国大会講演論文集, S9(21)-S9(24), 2024年3月..[組織] ... 佐々木 渓, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : チャージポンプ型電荷注入回路を用いるトロイ回路検出の検討, 電子情報通信学会技術研究報告, Vol.FIIS24, No.599, 1-6, 2024年6月..[組織] ... 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : バウンダリスキャンを用いる不完全接続の検査, エレクトロニクス実装学会誌, Vol.27, No.4, 288-293, 2024年..[組織] ... Daichi Akamatsu, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume : Design of an Efficient PRPG for Testing an Approximate Multiplier Using Truncation, Proc. of 2024 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC), (頁), Okinawa, July 2024..[組織] ... Yamahashi Yuya, Ohmatsu Masao, Hiroyuki Yotsuyanagi, Shyue-Kung Lu and Masaki Hashizume : Dependence of Threshold Values for Interconnect Testing with Relaxation Oscillators on Unit-to-unit Variations of ICs, 2024 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC), Okinawa, July 2024..[組織] ... Kenta Sasagawa, Senling Wang, Tatsuya Nishikawa, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Yotsuyanagi, Tianming Ni and Xiaoqing Wen : Deep-BMNN: Implementing Sparse Binary Neural Networks in Memory-Based Reconfigurable Processor (MRP), Proc. of 2024 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC), (頁), Okinawa, July 2024..[組織] ... 本間 琉偉, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : TDC 組込み型バウンダリスキャンによる遅延測定の補正法, 第89回FTC研究会資料, 2024年7月..[組織] ... 南 柊哉, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 自己観測型 TDC 組込みバウンダリスキャンを用いた半断線故障検査, 第89回FTC研究会資料, 2024年7月..[組織] ...
過去3日以内に登録・変更された情報
本データベースでは情報の登録，保守作業の分散を主たる目的の一つとしております．したがって，上記にリストアップされている情報の保守は個々の情報の当事者に委ねられます．
ある情報を保守する義務があるかないかは，その情報に対して権限を持っているかどうかで判断してください．もちろん情報の所有者が主に管理しなくてはならないことになりますが，権限を持っている利用者が連帯してその情報の保守を行なう義務を負っていると考えてください．
貴方がどの情報について権限を持っているかは，貴方自身の情報を閲覧してください．
Number of session users = 0, LA = 0.81, Max(EID) = 415349, Max(EOID) = 1121978.