『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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--- テーブル「著作」（著作（著書，論文，レター，国際会議など））は研究業績にかかる著作（著書，論文，レター，国際会議など）を登録するテーブルです．
登録情報
抽出条件
| REF= |  一宮 正博
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抽出結果のリスト
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排列順: 項目表示: 為貞 建臣, 一宮 正博 : TTL-NAND無安定マルチバイブレータの出力電圧波形の改善, 電子情報通信学会論文誌(D), Vol.J67-D, No.7, 819-820, 1984年..[著者] ... 為貞 建臣, 一宮 正博 : 無安定マルチバイブレータの起動回路とその効果, 電子情報通信学会論文誌(D), Vol.J68-D, No.3, 408-409, 1985年..[著者] ... 為貞 建臣, 一宮 正博 : ECLゲートを用いた無安定マルチバイブレータの特性, 徳島大学工学部研究報告, (巻), No.34, 45-55, 1989年..[著者] ... Masaki Hashizume, Yukiya Miura, Masahiro Ichimiya, Takeomi Tamesada and Kozo Kinoshita : A High Speed IDDQ Sensor for Low Voltage ICs, IEEE Seventh Asian Test Symposium, (巻), (号), 327-331, Singapore, Dec. 1998..[著者] ... 佐藤 匡司, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 一宮 正博, 為貞 建臣 : ADCL回路駆動用矩形波電源回路, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), No.9-2, 130, 2000年10月..[著者] ... 橋爪 正樹, 一宮 正博, 四柳 浩之, 為貞 建臣 : 交流電界印加時の電源電流によるCMOS IC内断線故障検出法, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), No.10-5, 145, 2000年10月..[著者] ... 辻 章公, 一宮 正博, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 為貞 建臣 : 交流電界印加時の電流テストによるICピン浮き検出法, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), No.10-9, 149, 2000年10月..[著者] ... Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masahiro Ichimiya, Takeomi Tamesada and Masashi Takeda : High Speed IDDQ Test and Its Testability for Process Variation, IEEE Asian Test Symposium, (巻), (号), 344-349, TAIPEI TAIWAN, Dec. 2000..[著者] ... 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 為貞 建臣, 一宮 正博 : 外部交流電界印加によるCMOS ICのオープン故障検出法と検査入力生成について, 第44回FTC研究会資料, (巻), (号), (頁), 2001年1月..[著者] ... Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroshi Hoshika, Hiroyuki Yotsuyanagi and Takeomi Tamesada : CMOS Open Defect Detection by Supply Current Test, Proc. of Design, Automation and Test in Europe Conference 2001, (巻), (号), 509-513, Munich, March 2001..[著者] ... Masaki Hashizume, Akihiro Tsuji, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi and Takeomi Tamesada : Supply Current Test for Pin Opens in CMOS Logic Circuits, Proc. of International Conference on Electronics Packaging, (巻), (号), 363-368, Tokyo, April 2001..[著者] ... Akihiro Tsuji, Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi and Takeomi Tamesada : Pin Open Detection Method Based on Supply Current in Time-variable Magnetic Field, Proc. of 2001 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications, Vol.1, (号), 438-441, Tokushima, July 2001..[著者] ... Teppei Takeda, Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi and Takeomi Tamesada : A High Speed IDDQ Sensor Circuit, Proc. of 2001 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications, Vol.2, (号), 438-441, Tokushima, July 2001..[著者] ... 辻 章公, 橋爪 正樹, 一宮 正博, 四柳 浩之, 為貞 建臣 : 電流テストによるICピン浮き検出のための外部交流電界印加法, 第45回FTC研究会資料, (巻), (号), (頁), 2001年7月..[著者] ... 前田 直樹, 一宮 正博, 谷 俊一, 橋爪 正樹, 為貞 建臣 : 圧迫性神経障害の電気診断装置のための飽和防止アンプの開発, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), (号), 138, 2001年9月..[著者] ... 辻 章公, 橋爪 正樹, 一宮 正博, 四柳 浩之, 為貞 建臣 : 交流電界印加によるICピン浮きの検出実験, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), (号), 141, 2001年9月..[著者] ... 竹田 哲平, 橋爪 正樹, 一宮 正博, 四柳 浩之, 三浦 幸也, 樹下 行三 : ゲートの負荷容量の高速充電によるIDDQテストの高速化, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), (号), 142, 2001年9月..[著者] ... 橋爪 正樹, 佐藤 匡司, 四柳 浩之, 一宮 正博, 為貞 建臣 : ADCL回路の高速動作用電源回路による回路動作時の消費電力, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), (号), 143, 2001年9月..[著者] ... 岩切 泰介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 一宮 正博, 為貞 建臣 : 電流テストによるCMOS ICの断線故障検出法における縮退故障の検査入力と乱数パターンの評価, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), (号), 150, 2001年9月..[著者] ... Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Taisuke Iwakiri, Masahiro Ichimiya and Takeomi Tamesada : Test Pattern for Supply Current Test of Open Defects by Applying Time-variable Electric Field, Proc. of the IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, (巻), (号), 287-295, San Francisco, Oct. 2001..[著者] ... Teppei Takeda, Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Yukiya Miura and Kozo Kinoshita : IDDQ Sensing Technique for High Speed IDDQ Testing, Proc. of Tenth Asian Test Symposium, (巻), (号), 111-116, Kyoto, Nov. 2001..[著者] ... Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi and Takeomi Tamesada : CMOS Open Defect Detection Based on Supply Current in Time-variable Electric Field and Supply Voltage Application, Proc. of Tenth Asian Test Symposium, (巻), (号), 117-122, Kyoto, Nov. 2001..[著者] ... Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Taisuke Iwakiri, Masahiro Ichimiya and Takeomi Tamesada : Random Pattern Testability of the Open Defect Detection Method using Application of Time-variable Electric Field, Proc. of the IEEE International Workshop on Electronic Design, Test, and Applications, (巻), (号), 387-391, Christchurch, New Zealand, Jan. 2002..[著者] ... Masaki Hashizume, Tasaka Eiji, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Takeomi Tamesada and Toshihiro Kayahara : Power-off Vectorless Test Method for Pin Opens in CMOS Logic Circuits, Proc. of International Conference on Electronics Packaging, (巻), (号), 416-420, Tokyo, April 2002..[著者] ... Masaki Hashizume, Teppei Takeda, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Yukiya Miura and Kozo Kinoshita : IDDQ Test Time Reduction by High Speed Charging of Load Capacitors of CMOS Logic Gates, IEICE Transactions on Information and Systems, Vol.E85-D, No.10, 1534-1541, 2002..[著者] ... Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi and Takeomi Tamesada : CMOS Open Defect Detection by Supply Current Measurement under Time-Variable Electric Field Supply, IEICE Transactions on Information and Systems, Vol.E85-D, No.10, 1542-1550, 2002..[著者] ... 高木 正夫, 月本 功, 橋爪 正樹, 一宮 正博, 四柳 浩之, 為貞 建臣 : 交流電界印加時の電源電流によるCMOS PLCC ICのピン浮き検出, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), (号), 139, 2002年10月..[著者] ... 前田 直樹, 一宮 正博, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 為貞 建臣 : BGA ICの交流磁界印加時の電流テストによるピン浮きの検出可能性, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), (号), 140, 2002年10月..[著者] ... 南 隆夫, 橋爪 正樹, 田坂 英司, 一宮 正博, 四柳 浩之, 為貞 建臣, 茅原 敏広 : ICピン浮きのパワー·オフ·テスト法, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), (号), 141, 2002年10月..[著者] ... 岩切 泰介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 一宮 正博, 為貞 建臣 : 電流テストによるCMOS ICの断線故障検出法におけるテスト集合圧縮, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), (号), 146, 2002年10月..[著者] ... 橋爪 正樹, 一宮 正博, 四柳 浩之, 為貞 建臣 : 電流テストによるICピン浮き検出のための外部交流電界印加法, 第48回FTC研究会資料, (巻), (号), (頁), 2003年1月..[著者] ... 一宮 正博, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 為貞 建臣 : CMOS論理ICの交流電界印加時の電源電流測定によるピン浮き検出法, エレクトロニクス実装学会誌, Vol.6, No.2, 140-146, 2003年..[著者] ... Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi and Takeomi Tamesada : Electric Field Application Method Effective for Pin Open Detection Based on Supply Current in CMOS Logic Circuits, Proc. of International Conference on Electronics Packaging, (巻), (号), 75-80, Tokyo, April 2003..[著者] ... 一宮 正博, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 為貞 建臣 : CMOS論理回路の発振を生じるICピン短絡故障検出回路, 電子情報通信学会論文誌(D-I), Vol.J86-D-I, No.6, 402-411, 2003年..[著者] ... Takagi Masao, Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi and Takeomi Tamesada : Testability of Pin Open in Small Outline Package ICs by Supply Current Test, Proc. of the 2003 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications, (巻), (号), 832-835, Kang-Won Do, Korea, July 2003..[著者] ... 高木 正夫, 月本 功, 橋爪 正樹, 一宮 正博, 四柳 浩之, 為貞 建臣 : 交流電界印加時の電源電流によるCMOS TQFP ICのピン浮き検出, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), (号), 134, 2003年10月..[著者] ... Takagi Masao, Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Tsukimoto Isao and Takeomi Tamesada : AC Electric Field for Detecting Pin Opens by Supply Current of CMOS ICs, Proc. of International Conference on Electronics Packaging, (巻), (号), 217-222, Tokyo, April 2004..[著者] ... Masao Takagi, Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi and Takeomi Tamesada : Lead Open Detection Based on Supply Current of CMOS LSIs, IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, Vol.E87-A, No.6, 1330-1337, 2004..[著者] ... Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi and Takeomi Tamesada : Test Circuit for CMOS Lead Open Detection by Supply Current Testing under AC Electric Field Application, Proc. of the 2004 47-th Midwest Symposium on Circuits and Systems, (巻), (号), I-557-I-560, Hiroshima, July 2004..[著者] ... 高木 正夫, 橋爪 正樹, 石井 寛文, 月本 功, 一宮 正博, 四柳 浩之, 為貞 建臣 : 低電源電圧CMOS TQFP ICの交流電界印加時の電流テストによるピン浮き検出, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), (号), 110, 2004年9月..[著者] ... 西田 智巳, 橋爪 正樹, 一宮 正博, 四柳 浩之, 為貞 建臣, 三浦 幸也 : 抵抗ストリング型DA変換器の電流テストの可能性, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), (号), 111, 2004年9月..[著者] ... 中屋敷 慎太郎, 一宮 正博, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 為貞 建臣 : ゲートの負荷容量の高速充電による高速IDDQテスト回路の開発, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), (号), 112, 2004年9月..[著者] ... Masahiro Ichimiya, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi and Takeomi Tamesada : Test Equipment for CMOS Lead Open Detection Based on Supply Current under AC Electric Field Application, Proc. of the ECWC 10 Conference, (巻), (号), P03-5-1-P03-5-5, Anaheim, Feb. 2005..[著者] ... Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi and Takeomi Tamesada : Vectorless Open Pin Detection Method for CMOS Logic Circuits, Proc. of International Conference on Electronics Packaging, (巻), (号), 391-396, Tokyo, April 2005..[著者] ... Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi and Takeomi Tamesada : Electric Field for Detecting Open Leads in CMOS Logic Circuits by Supply Current Testing, Proc. of IEEE International Symposium on Circuits and Systems, (巻), (号), 2995-2998, Kobe, May 2005..[著者] ... 高木 正夫, 橋爪 正樹, 月本 功, 一宮 正博, 四柳 浩之, 為貞 建臣 : 交流電界印加時のリード浮き電流テストでのリード浮き発生信号線への出力論理値の影響, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), (号), 118, 2005年9月..[著者] ... Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi and Takeomi Tamesada : Open Lead Detection Based on Supply Current of CMOS Logic Circuits by AC Voltage Signal Application, Proceedings of ICEP2006, (巻), (号), 147-152, Tokyo, April 2006..[著者] ... 池上 徹, 月本 功, 高木 正夫, 一宮 正博, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 交流電界印加時電源電流測定によるリード浮き検出における内層ベタグランドの影響, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), (号), 70, 2006年9月..[著者] ... 矢野 康治郎, 高木 正夫, 月本 功, 一宮 正博, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 交流電界印加時の電流テストによるCMOS LSIの出力リード浮き検出のための電界発生用電圧, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), (号), 71, 2006年9月..[著者] ... 東條 充, 一宮 正博, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 交流電界印加による電流テスト用検査装置の試作, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, (巻), (号), 72, 2006年9月..[著者] ... Tojo Mitsuru, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume : Current Testing of Interconnect Opens between CMOS LSIs Having Scan Cells, IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 39-42, Santa Clara, Oct. 2006..[著者] ... Ono Akira, Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya and Hiroyuki Yotsuyanagi : Open Lead Detection of CMOS Logic Circuits by Low Pressure Probing, Proceedings of ICEP2007, 359-364, Tokyo, April 2007..[著者] ... 高木 正夫, 橋爪 正樹, 一宮 正博, 四柳 浩之 : 交流電界印加時の電流テストによるCMOS LSIのリード浮き検出のための印加交流電圧, エレクトロニクス実装学会誌, Vol.10, No.3, 219-228, 2007年..[著者] ... 橋爪 正樹, 一宮 正博, 四柳 浩之 : CMOS QFP ICのリード浮きの電気的検査法, アカデミック・ラボラトリ・ポスタープログラム講演論文集, 41-46, 2007年6月..[著者] ... 東條 充, 一宮 正博, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 交流電界印加時の電流テストによる試作ICの断線故障検出, 第57回FTC研究会資料, 2007年7月..[著者] ... 小野 安季良, 一宮 正博, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 月本 功, 高木 正夫 : 論理IC実装時に発生する抵抗を伴うリード浮きに対する電流テスト能力評価, マイクロエレクトロニクスシンポジウム, 195-198, 2007年9月..[著者] ... 東條 充, 一宮 正博, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 交流電界印加時の電流テストによる試作IC内断線の検査, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 82, 2007年9月..[著者] ... 滝川 徳郎, 東條 充, 一宮 正博, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 0.35umCMOSプロセスで試作したICのリード浮きの電流テスト可能性評価, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 83, 2007年9月..[著者] ... 大西 章仁, 小野 安季良, 一宮 正博, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 高木 正夫 : QFP CMOS CPLD ICのリード浮きの電流テスト能力評価, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 84, 2007年9月..[著者] ... 矢野 康治郎, 高木 正夫, 月本 功, 一宮 正博, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 交流電界印加時の電流テストによるCMOS LSIの出力リード浮き検出-プリント配線の長さによる印加電圧の変化-, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 85, 2007年9月..[著者] ... 池上 徹, 月本 功, 高木 正夫, 一宮 正博, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 内層グランド層のある4層基板における電源電圧仕様の異なるCPLDのリード浮き発生時電源電流特性, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 86, 2007年9月..[著者] ... Masaki Hashizume, Yuuki Ogata, Mitsuru Tojo, Masahiro Ichimiya and Hiroyuki Yotsuyanagi : Interconnect Open Detection by Supply Current Testing under AC Electric Field Application, IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 25-29, Santa Clara, Oct. 2007..[著者] ... Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Akira Ono and Hiroyuki Yotsuyanagi : Test Circuit for Vectorless Open Lead Detection of CMOS ICs, IEEE 6-th International Board Test Workshop, Fort Collins, Oct. 2007..[著者] ... 小野 安季良, 一宮 正博, 四柳 浩之, 高木 正夫, 橋爪 正樹 : 電流テストによるQFP CPLD ICのリード浮きの検査能力評価, 第22回エレクトロニクス実装学会講演大会, 143-144, 2008年3月..[著者] ... Akira Ono, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masao Takagi and Masaki Hashizume : Test Method for DetectingOpen Leads of Low Voltage LSIs, Proceedings of ICEP2008, 457-462, Tokyo, June 2008..[著者] ... Akira Ono, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masao Takagi and Masaki Hashizume : Open Lead Detection Based on Logical Change Caused by AC Voltage Signal Stimulus, Proc. of 2008 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications, 241-244, Shimonoseki,Japan, July 2008..[著者] ... Masaki Hashizume, Akihito Shimoura, Masahiro Ichimiya and Hiroyuki Yotsuyanagi : Test Circuit for Locating Open Leads of QFP ICs, IEEE 7-th International Board Test Workshop, Fort Collins, USA, Sep. 2008..[著者] ... 内倉 健一, 一宮 正博, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 交流電圧信号印加時の論理値異常によるリード浮き検出回路の試作, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 100, 2008年9月..[著者] ... 橋爪 正樹, 一宮 正博, 四柳 浩之, 下谷 光生, 多田 哲生, 小山 健 : 電流テストによるQFP IC のリード浮き診断回路, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 101, 2008年9月..[著者] ... 松尾 匡記, 小野 安季良, 一宮 正博, 四柳 浩之, 高木 正夫, 橋爪 正樹 : CMOS 論理IC の出力論理値変化に基づくリード浮き検査法の故障検出速度, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 102, 2008年9月..[著者] ... 月本 功, 池上 徹, 高木 正夫, 一宮 正博, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 交流電界印加時の電流テストによるCMOS IC のリード浮き検出における電界印加電圧への周辺配線の影響, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 103, 2008年9月..[著者] ... 加藤 健二, 一宮 正博, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 0.35μmCMOSICの配線断線時の故障動作の実測, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 104, 2008年9月..[著者] ... 小野 安季良, 一宮 正博, 四柳 浩之, 高木 正夫, 橋爪 正樹 : CMOSゲート回路を断線センサとして用いた部品接合不良検出法, エレクトロニクス実装学会誌, Vol.12, No.2, 137-143, 2009年..[著者] ... 小野 安季良, 一宮 正博, 四柳 浩之, 高木 正夫, 橋爪 正樹 : 検査回路の電源電流測定によるICの電源リード浮き検査能力評価, エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集, 79-80, 2009年3月..[著者] ... 橋爪 正樹, 一宮 正博, 四柳 浩之, 小野 安季良, 高木 正夫 : QFP ICのリード浮きの電気的検出用回路, 第23回エレクトロニクス実装学会講演大会, (巻), (号), 75-77, 2009年3月..[著者] ... 内倉 健一, 一宮 正博, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 下谷 光生, 多田 哲生, 小山 健 : 電流テストによる QFP IC のリード浮き検出用検査治具, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 114, 2009年9月..[著者] ...
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