『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
〔閲覧〕【著作】
--- テーブル「著作」（著作（著書，論文，レター，国際会議など））は研究業績にかかる著作（著書，論文，レター，国際会議など）を登録するテーブルです．
登録情報
抽出条件
| PERM= |  徳島大学.先端技術科学教育部.システム創生工学専攻.電気電子創生工学コース.知能電子回路講座 (2006年4月1日〜)
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登録情報の数
有効な情報: 27件 + 無効な情報: 0件 = 全ての情報: 27件
全ての有効な情報 (27件)
条件追加
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抽出結果のリスト
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排列順: 項目表示: 西岡 隆志, 小中 信典, 佐藤 弘明 : RCシャント回路を持つレーザ駆動回路のtr，tfの検討, 電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集, No.C-12-5, 2006年9月..[組織] ... 佐々木 義典, 小中 信典, 佐藤 弘明, 來山 征士 : マイク収録音と原音との照合法の検討, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, No.16-32, 2006年9月..[組織] ... 美馬 憲人, 小中 信典, 佐藤 弘明 : 方向線ベクトルを用いた細胞核の探索，捕捉判別法の検討, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, No.15-8, 2006年9月..[組織] ... 北井 豊, 小中 信典, 佐藤 弘明, 來山 征士 : 方向線ベクトルを用いた癌画像における特徴抽出法の検討, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, No.13-18, 2006年9月..[組織] ... 向原 孝彦, 小中 信典, 佐藤 弘明 : 色情報を利用した組織標本画像の特徴比較の検討, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, No.13-17, 2006年9月..[組織] ... 清野 哲司, 小中 信典, 佐藤 弘明 : nMOS回路によるVCSEL型レーザ駆動回路の立ち上がり・立ち下がりの高速化の検討, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, No.9-13, 2006年9月..[組織] ... 川野 雄祐, 小中 信典, 佐藤 弘明 : 容量結合を用いた3.3Vバイポーラレーザ駆動回路のtr，tf高速化の検討, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, No.9-14, 2006年9月..[組織] ... 佐々木 義典, 小中 信典, 佐藤 弘明, 來山 征士 : 原曲とそのマイク録音曲との照合についての一検討, 電子情報通信学会総合大会講演論文集, No.A-10-10, 2007年3月..[組織] ... 堀中 啓司, 小中 信典, 佐藤 弘明, 來山 征士 : 聴診音からの心周期抽出法についての一検討, 電子情報通信学会総合大会講演論文集, No.D-7-9, 2007年3月..[組織] ... 向原 孝彦, 小中 信典, 來山 征士 : 色情報を用いた細胞核抽出法の検討, MEとバイオサイバネティックス研究会, 2007年7月..[組織] ... 村西 英世, 小中 信典 : オープンリング共振器を用いたワイヤレス信号送信特性の検討, 電子情報通信学会総合大会講演論文集, No.C-2-86, 2008年3月..[組織] ... Jumpei Kawano, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume : On Design and Evaluation of a TDC Cell Embedded in the Boundary Scan Circuit for Delay Fault Testing of 3D ICs, Proc. of 33rd International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC 2018), 110-113, Bangkok, July 2018..[組織] ... Ishihara Ken, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu : Resistive Open Defects in 3D Stacked ICs Detected by Electrical Interconnect Testing with a Charge Injector Made of MOS Capacitors, Proc. of 33rd International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC 2018), 114-117, Bangkok, July 2018..[組織] ... 中西 遼太郎, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 樋上 喜信, 高橋 寛 : 機械学習の異常検知による半断線故障判別法における隣接線信号遷移パターンの評価について, 第81回FTC研究会資料, 2019年7月..[組織] ... 宮谷 康希, 神田 道也, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, Shyue-Kung Lu : オフセットキャンセル型コンパレータを用いた実装基板回路の静的電源電流による断線レベル検出の可能性調査, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 78, 2019年9月..[組織] ... 石原 健, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 : 電荷注入量に基づく検査法による差動増幅回路の抵抗断線検出可能性調査, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 79, 2019年9月..[組織] ... 松本 悠汰, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 : 電荷注入量による IC 内断線不良検出のための電荷注入開始時刻制御回路, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 80, 2019年9月..[組織] ... 西川 拓人, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : パス順位比較を用いる半断線故障検査法に対する実測によるチップ間ばらつきの影響調査, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 82, 2019年9月..[組織] ... 長田 奏美, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 検査容易化設計手法を用いた複数検査対象経路の同時選択による検査時間の削減, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 83, 2019年9月..[組織] ... 中西 健人, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : パス順位比較に用いる PFD の遅延分解能調査, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 84, 2019年9月..[組織] ... 河野 潤平, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : TDC 組込み型バウンダリスキャンにおけるバウンダリスキャンセルのスタンダードセル設計と評価, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 85, 2019年9月..[組織] ... Hanna Soneda, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu : Electrical Field Test Method of Resistive Open Defects between Dies by Quiescent Currents through Embedded Diodes, Proc. of The IEEE 2019 International 3D Systems Integration Conference, P4022-1-P4022-5, Sendai, Oct. 2019..[組織] ... Toshiaki Satoh, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume : On Delay Elements in Boundary Scan Cells for Delay Testing of 3D IC Interconnection, Proc. of The IEEE 2019 International 3D Systems Integration Conference, P4023-1-P4023-4, Sendai, Oct. 2019..[組織] ... Shyue-Kung Lu, Shu-Chi Yu, Chun-Lung Hsu, Chi-Tien Sun, Masaki Hashizume and Hiroyuki Yotsuyanagi : Fault-Aware Dependability Enhancement Techniques for Flash Memories, IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Vol.28, No.3, 634-645, 2020..[組織] ... 長田 奏美, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : 遅延故障検査容易化設計の同時観測経路の選択によるテスト時間短縮, 第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会, 4C1-01-1-4C1-01-3, 2020年3月..[組織] ... 山崎 紘史, 石山 悠太, 松田 竜馬, 細川 利典, 吉村 正義, 新井 雅之, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法, 電子情報通信学会技術研究報告, Vol.119, No.443, 215-220, 2020年3月..[組織] ... Kanda Michiya, Masaki Hashizume, Ali Ashikin Binti Fara, Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu : Open Defect Detection Not Utilizing Boundary Scan Flip-Flops in Assembled Circuit Boards, IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology, Vol.10, No.5, 895-907, 2020..[組織] ...
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