著作: [任 福継]/Fanout Point-Oriented Fault Simulation in VLSI/Journal of Chinese Computer
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種別 | 必須 | 学術論文(審査論文) | |||||||||
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言語 | 必須 | 中国語 | |||||||||
招待 | 推奨 | ||||||||||
審査 | 推奨 | Peer Review | |||||||||
カテゴリ | 推奨 | ||||||||||
共著種別 | 推奨 | ||||||||||
学究種別 | 推奨 | ||||||||||
組織 | 推奨 |
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著者 | 必須 |
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題名 | 必須 |
(英) Fanout Point-Oriented Fault Simulation in VLSI |
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副題 | 任意 | ||||||||||
要約 | 任意 |
(日) VLSIの故障検査を行う場合,回路を分割して試験したり,回路中の信号をモニタすることが困難であるために,大規模な回路では故障試験に膨大な入力系列(検査系列)を必要とする.しかし,このような検出できる故障をシミュレーションすると,やはり膨大な時間が必要であるので,その高速化が求められている.本論文では,分岐点指向の並列大規模な論理システムの故障シミュレーション方法を提案した.従来の手法では,すべての節点をシミュレーションしなければならないが,本方法では分岐点のみを行う.また,本手法では,正常回路と複数の故障回路の論理値をホスト計算機の1ワードのビット演算を用いてシミュレーションを行う.それで,ビット演算の並列処理による高速化が達成されている.統計によると,平均的に分岐点は5分の1から10分の1程度で,本手法は極めて高速である.そして,理論的にこの手法の正確性を証明できた. |
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キーワード | 推奨 |
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発行所 | 推奨 | (英) Chinese Computer Society | |||||||||
誌名 | 必須 |
(英) Journal of Chinese Computer
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巻 | 必須 | 13 | |||||||||
号 | 必須 | 2 | |||||||||
頁 | 必須 | 133 138 | |||||||||
都市 | 任意 | ||||||||||
年月日 | 必須 | 1990年 0月 初日 | |||||||||
URL | 任意 | ||||||||||
DOI | 任意 | ||||||||||
PMID | 任意 | ||||||||||
CRID | 任意 | ||||||||||
WOS | 任意 | ||||||||||
Scopus | 任意 | ||||||||||
評価値 | 任意 | ||||||||||
被引用数 | 任意 | ||||||||||
指導教員 | 推奨 | ||||||||||
備考 | 任意 |