授業概要: 2003/化学反応工学特論
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種別 | 必須 | 工学研究科 (授業概要) | |||
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入学年度 | 必須 | 西暦 2003年 (平成 15年) | |||
名称 | 必須 |
(英) Advanced Chemical Reaction Engineering / (日) 化学反応工学特論 / (読) かがくはんのうこうがくとくろん
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コース | 必須 | ||||
担当教員 | 必須 |
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単位 | 必須 | 2 | |||
目的 | 必須 | ||||
概要 | 必須 |
(英) [I] Electron Spectroscopy. 1. Structure of atoms and electron configuration. 2. Electron emission. 3. X-ray photoelectron spectroscopy. 4. Auger electron. 5. Ultraviolet photoelectron spectroscopy. 6. Energy analyzers. [II] Electron Microscopy. 1. Electron lens and resolving power. 2. Electron scattering. 3. Contrast. 4. Transmission electron microscopy. 5. Scanning electron microscopy. 6. Energy dispersive X-ray spectroscopy and Electron probe microanalyzer. 7. Scanning tunneling microscopy. [III] Laboratory practice and exercise. (日) 固体触媒の設計に関する最近の進歩,とくに表面分析および電子顕微鏡について概観し,電子分光(XPS/Auger)の基礎理論と装置構成および材料研究への応用事例を解説するとともに測定実習と解析演習を行なう. 〔Ⅰ〕電子分光 1.原子の構造と多電子系の電子配置 2.電子放出の物理学 3.X線光電子分光技術 4.Auger遷移とその応用 5.真空紫外電子分光 6.装置構成,とくにエネルギー分析器の型式と性能 〔Ⅱ〕電子顕微鏡の構造と機能 1.電子レンズの型式と顕微鏡の分解能 2.入射電子の散乱 3.コントラストと画像形成理論 4.透過電顕(TEM) 5.走査電顕(SEM) 6.エネルギー分散X線分光(EDS,EPMA) 7.走査トンネル顕微鏡(STM) 〔Ⅲ〕複合酸化物触媒による測定実習と解析演習 |
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キーワード | 推奨 | ||||
先行科目 | 推奨 | ||||
関連科目 | 推奨 | ||||
要件 | 任意 | ||||
注意 | 任意 | ||||
目標 | 必須 | ||||
計画 | 必須 | ||||
評価 | 必須 | ||||
対象学生 | 任意 | ||||
教科書 | 必須 | ||||
参考資料 | 推奨 | ||||
URL | 任意 | ||||
連絡先 | 推奨 | ||||
科目コード | 推奨 | ||||
備考 | 任意 |