著作: 有元 康滋/牧野 紘史/[四柳 浩之]/[橋爪 正樹]/TDC組込み型バウンダリスキャンの観測セル部分選択による検査時間削減について/第35回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
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種別 | 必須 | 国内講演発表 | |||
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言語 | 必須 | 日本語 | |||
招待 | 推奨 | ||||
審査 | 推奨 | ||||
カテゴリ | 推奨 | 研究 | |||
共著種別 | 推奨 | 単独著作(徳島大学内の単一の研究グループ(研究室等)内の研究 (単著も含む)) | |||
学究種別 | 推奨 | 博士前期課程学生による研究報告 | |||
組織 | 推奨 |
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著者 | 必須 | ||||
題名 | 必須 |
(英) On Test Time Reduction by Selecting Cells for Observing Delay Using Boundary Scan with Embedded TDC (日) TDC組込み型バウンダリスキャンの観測セル部分選択による検査時間削減について |
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副題 | 任意 | ||||
要約 | 任意 | ||||
キーワード | 推奨 | ||||
発行所 | 推奨 | 社団法人 エレクトロニクス実装学会 | |||
誌名 | 必須 |
(日) 第35回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
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巻 | 必須 | --- | |||
号 | 必須 | --- | |||
頁 | 必須 | 18B2-02-1 18B2-02-4 | |||
都市 | 必須 | オンライン(Online) | |||
年月日 | 必須 | 2021年 3月 18日 | |||
URL | 任意 | ||||
DOI | 任意 | ||||
PMID | 任意 | ||||
CRID | 任意 | ||||
Scopus | 任意 | ||||
researchmap | 任意 | ||||
評価値 | 任意 | ||||
被引用数 | 任意 | ||||
指導教員 | 推奨 | ||||
備考 | 任意 |