徳島大学 教育・研究者情報データベース(EDB)

Education and Research Database (EDB), Tokushima University

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著作: 曽根田 伴奈/[橋爪 正樹]/[四柳 浩之]/Lu Shyue-Kung/Electrical Field Test Method of Resistive Open Defects between Dies by Quiescent Currents through Embedded Diodes/Proc. of The IEEE 2019 International 3D Systems Integration Conference/[橋爪 正樹]/[四柳 浩之]

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EID
360537
EOID
997638
Map
0
LastModified
2020年12月23日(水) 10:15:52
Operator
四柳 浩之
Avail
TRUE
Censor
承認済
Owner
橋爪 正樹
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継承
Write
継承
Delete
継承
種別 必須 国際会議
言語 必須 英語
招待 推奨
審査 推奨 Peer Review
カテゴリ 推奨 研究
共著種別 推奨 国際共著(徳島大学内研究者と国外研究機関所属研究者との共同研究)
学究種別 推奨 博士前期課程学生による研究報告
組織 推奨
  1. 徳島大学.先端技術科学教育部.システム創生工学専攻.電気電子創生工学コース.知能電子回路講座(2006年4月1日〜)
  2. 徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野(2017年4月1日〜)
  3. 徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座(2016年4月1日〜)
著者 必須
  1. (英) Soneda Hanna / (日) 曽根田 伴奈 / (読) そねだ はんな
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨 ****
  2. 橋爪 正樹
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  3. 四柳 浩之([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  4. (英) Lu Shyue-Kung
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
題名 必須

(英) Electrical Field Test Method of Resistive Open Defects between Dies by Quiescent Currents through Embedded Diodes
副題 任意
要約 任意

(英) Dies in 3D stacked ICs are connected with Through-Silicon-Vias or micro bumps. Resistive open defects may occur at interconnects between the dies in fabrication process. The defects may grow to an open circuit fault in the field after shipping to a market. In this paper, a field test method is proposed so as the defect to be detected after shipping to a market before it becomes an open circuit fault. This test method is based on a quiescent supply current that is made flow through an interconnect between dies only in tests. It is shown by Spice simulation that an increase of 0.01Ω is detected by the test method in field tests.
キーワード 推奨
発行所 推奨 IEEE
誌名 必須 (英) Proc. of The IEEE 2019 International 3D Systems Integration Conference
ISSN 任意
巻 必須 ---
号 必須 ---
頁 必須 P4022-1 P4022-5
都市 必須 仙台(Sendai/[日本国])
年月日 必須 2019年 10月 9日
URL 任意
DOI 任意 10.1109/3DIC48104.2019.9058777    (→Scopusで検索)
PMID 任意
CRID 任意
Scopus 任意
  1. 2-s2.0-85084108412
researchmap 任意
評価値 任意
被引用数 任意
指導教員 推奨
  1. 橋爪 正樹
  2. 四柳 浩之([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
備考 任意