徳島大学 教育・研究者情報データベース(EDB)

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著作: Tsuji E./Ichiba H./[野口 直樹]/Kutluk G./Namatame H./Hayakawa S./Conversion electron yield XAFS measurements for characterization of near surface region of non-conducting sample/The 15th International Conference of Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis and Related Methods

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EID
349550
EOID
939240
Map
0
LastModified
2019年2月22日(金) 13:58:56
Operator
野口 直樹
Avail
TRUE
Censor
0
Owner
野口 直樹
Read
継承
Write
継承
Delete
継承
種別 必須 国際会議
言語 必須 英語
招待 推奨
審査 推奨
カテゴリ 推奨
共著種別 推奨
学究種別 推奨
組織 推奨
著者 必須
  1. (英) Tsuji E.
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  2. (英) Ichiba H.
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  3. 野口 直樹([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.応用化学系.物質機能化学分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.応用化学システムコース.物質機能化学講座])
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  4. (英) Kutluk G.
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  5. (英) Namatame H.
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  6. (英) Hayakawa S.
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
題名 必須

(英) Conversion electron yield XAFS measurements for characterization of near surface region of non-conducting sample

副題 任意
要約 任意
キーワード 推奨
発行所 推奨
誌名 必須 (英) The 15th International Conference of Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis and Related Methods
ISSN 任意
必須 ---
必須 ---
必須 ---
都市 必須
年月日 必須 2013年 9月 初日
URL 任意
DOI 任意
PMID 任意
NAID 任意
WOS 任意
Scopus 任意
評価値 任意
被引用数 任意
指導教員 推奨
備考 任意