徳島大学 教育・研究者情報データベース(EDB)

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著作: Luo Zhipeng/Zhao Fazhan/Wang Shihai/Wan Caiping/許 恒宇/[敖 金平]/4H-SiC MOS Capacitor C-V Curve Shift Caused by ArF Excimer Laser Light Irradiation/The 5th International Symposium on Single Crystal Diamond and Electronics

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EID
342252
EOID
988193
Map
0
LastModified
2020年8月22日(土) 21:17:03
Operator
大家 隆弘
Avail
TRUE
Censor
0
Owner
敖 金平
Read
継承
Write
継承
Delete
継承
種別 必須 国際会議
言語 必須 英語
招待 推奨
審査 推奨 Peer Review
カテゴリ 推奨 研究
共著種別 推奨 国際共著(徳島大学内研究者と国外研究機関所属研究者との共同研究)
学究種別 推奨
組織 推奨
  1. 徳島大学.理工学部(2016年4月1日〜)
著者 必須
  1. (英) Luo Zhipeng
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  2. (英) Zhao Fazhan
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  3. (英) Wang Shihai
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  4. (英) Wan Caiping
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  5. (英) Xu Hengyu / (日) 許 恒宇 / (読) きょ こうう
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨 ****
  6. 敖 金平([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.物性デバイス分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.物性デバイス講座])
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
題名 必須

(英) 4H-SiC MOS Capacitor C-V Curve Shift Caused by ArF Excimer Laser Light Irradiation

副題 任意
要約 任意
キーワード 推奨
発行所 推奨
誌名 必須 (英) The 5th International Symposium on Single Crystal Diamond and Electronics
ISSN 任意
必須 ---
必須 ---
必須 ---
都市 必須 西安(Xi'an/[中華人民共和国])
年月日 必須 2018年 6月 11日
URL 任意
DOI 任意
PMID 任意
NAID 任意
WOS 任意
Scopus 任意
評価値 任意
被引用数 任意
指導教員 推奨
備考 任意