共同研究: [徳島大学.工学研究科.電気電子工学専攻.電気電子システム講座]/国立台湾科技大学/秋田大学/[徳島文理大学]/[橋爪 正樹]/[四柳 浩之]/Shyue-Kung Lu/横山 洋之/多田 哲生/[他大学·他学部との共同研究]
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削除する| 組織 | 必須 |
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| 種別 | 必須 | 他大学·他学部との共同研究 | ||||||||||||
| テーマ | 必須 |
(英) 3-Dimensional IC tests and built-in test circuits (日) 3次元積層ICのテスト法と組み込みテスト回路に関する研究 |
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| 期間 | 必須 | 2017年 4月 1日〜2018年 3月 末日 | ||||||||||||
| 区分 | 任意 | |||||||||||||
| 金額 | 推奨 |
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| 備考 | 任意 | |||||||||||||