著作: Liu, Jun/Wang, Tangya/[任 福継]/Bad-Die Recycling Technique for Yield Enhancement of Three-Dimensional Memories/Microelectronics & Computer
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種別 | 必須 | 学術論文(審査論文) | |||||||||||||||||||||||||||
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言語 | 必須 | 中国語 | |||||||||||||||||||||||||||
招待 | 推奨 | ||||||||||||||||||||||||||||
審査 | 推奨 | Peer Review | |||||||||||||||||||||||||||
カテゴリ | 推奨 | 研究 | |||||||||||||||||||||||||||
共著種別 | 推奨 | 国際共著(徳島大学内研究者と国外研究機関所属研究者との共同研究) | |||||||||||||||||||||||||||
学究種別 | 推奨 | ||||||||||||||||||||||||||||
組織 | 推奨 |
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著者 | 必須 |
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題名 | 必須 |
(英) Bad-Die Recycling Technique for Yield Enhancement of Three-Dimensional Memories |
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副題 | 任意 | ||||||||||||||||||||||||||||
要約 | 任意 | ||||||||||||||||||||||||||||
キーワード | 推奨 | ||||||||||||||||||||||||||||
発行所 | 推奨 | ||||||||||||||||||||||||||||
誌名 | 必須 |
(英) Microelectronics & Computer
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巻 | 必須 | 33 | |||||||||||||||||||||||||||
号 | 必須 | 10 | |||||||||||||||||||||||||||
頁 | 必須 | 7 12 | |||||||||||||||||||||||||||
都市 | 任意 | ||||||||||||||||||||||||||||
年月日 | 必須 | 2016年 10月 初日 | |||||||||||||||||||||||||||
URL | 任意 | ||||||||||||||||||||||||||||
DOI | 任意 | 10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2016.10.002 (→Scopusで検索) | |||||||||||||||||||||||||||
PMID | 任意 | ||||||||||||||||||||||||||||
CRID | 任意 | ||||||||||||||||||||||||||||
WOS | 任意 | ||||||||||||||||||||||||||||
Scopus | 任意 | ||||||||||||||||||||||||||||
評価値 | 任意 | ||||||||||||||||||||||||||||
被引用数 | 任意 | ||||||||||||||||||||||||||||
指導教員 | 推奨 | ||||||||||||||||||||||||||||
備考 | 任意 |