徳島大学 教育・研究者情報データベース(EDB)

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特許・実用新案: 口井 敏匡/[四柳 浩之]/半導体集積回路,スキャン回路設計方法,テストパターン生成方法,および,スキャンテスト方法/20040802/20060216

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EID
327357
EOID
861095
Map
0
LastModified
2017年8月3日(木) 16:48:39
Operator
四柳 浩之
Avail
TRUE
Censor
0
Owner
四柳 浩之
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組織 推奨
  1. 徳島大学.工学部.電気電子工学科.知能電子回路講座
種別 必須 特許
出願国 必須
発明者 必須
  1. (日) 口井 敏匡
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  2. 四柳 浩之([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
出願人 推奨
名称 必須

(日) 半導体集積回路,スキャン回路設計方法,テストパターン生成方法,および,スキャンテスト方法

要約 任意
キーワード 推奨
出願 必須 2004-225962
出願年月日 必須 2004年 8月 2日
開示 必須 2006-047013
開示年月日 必須 2006年 2月 16日
番号 必須
年月日 必須
備考 任意