著作: Takegami Kazuki/[林 裕晃]/Yamada Kenji/Mihara Yoshiki/Kimoto Natsumi/[金澤 裕樹]/[東野 恒作]/Yamashita Kazuta/Hayashi Fumio/Okazaki Tohru/Hashizume Takuya/Kobayashi Ikuo/Entrance surface dose measurements using a small OSL dosimeter with a computed tomography scanner having 320 rows of detectors/[Radiological Physics and Technology]
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| 言語 | 必須 | 英語 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 招待 | 推奨 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 審査 | 推奨 | Peer Review | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| カテゴリ | 推奨 | 研究 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 共著種別 | 推奨 | 国内共著(徳島大学内研究者と国内(学外)研究者との共同研究 (国外研究者を含まない)) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 学究種別 | 推奨 | 修士課程学生による研究報告 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 組織 | 推奨 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 著者 | 必須 |
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| 題名 | 必須 |
(英) Entrance surface dose measurements using a small OSL dosimeter with a computed tomography scanner having 320 rows of detectors |
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| 副題 | 任意 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 要約 | 任意 |
(英) Entrance surface dose (ESD) measurements are important in X-ray computed tomography (CT) for examination, but in clinical settings it is difficult to measure ESDs because of a lack of suitable dosimeters. We focus on the capability of a small optically stimulated luminescence (OSL) dosimeter. The aim of this study is to propose a practical method for using an OSL dosimeter to measure the ESD when performing a CT examination. The small OSL dosimeter has an outer width of 10 mm; it is assumed that a partial dose may be measured because the slice thickness and helical pitch can be set to various values. To verify our method, we used a CT scanner having 320 rows of detectors and checked the consistencies of the ESDs measured using OSL dosimeters by comparing them with those measured using Gafchromic™ films. The films were calibrated using an ionization chamber on the basis of half-value layer estimation. On the other hand, the OSL dosimeter was appropriately calibrated using a practical calibration curve previously proposed by our group. The ESDs measured using the OSL dosimeters were in good agreement with the reference ESDs from the Gafchromic™ films. Using these data, we also estimated the uncertainty of ESDs measured with small OSL dosimeters. We concluded that a small OSL dosimeter can be considered suitable for measuring the ESD with an uncertainty of 30 % during CT examinations in which pitch factors below 1.000 are applied. |
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| キーワード | 推奨 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 発行所 | 推奨 | (英) Springer | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 誌名 | 必須 |
Radiological Physics and Technology([社団法人 日本放射線技術学会]/日本医学物理学会)
(pISSN: 1865-0333, eISSN: 1865-0341)
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| 巻 | 必須 | 10 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 号 | 必須 | 1 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 頁 | 必須 | 49 59 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 都市 | 任意 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 年月日 | 必須 | 2017年 3月 8日 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| URL | 任意 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| DOI | 任意 | 10.1007/s12194-016-0366-1 (→Scopusで検索) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| PMID | 任意 | 27341805 (→Scopusで検索) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| CRID | 任意 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| WOS | 任意 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Scopus | 任意 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 機関リポジトリ | 110814 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 評価値 | 任意 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 被引用数 | 任意 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 指導教員 | 推奨 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 備考 | 任意 |
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