徳島大学 教育・研究者情報データベース(EDB)

Education and Research Database (EDB), Tokushima University

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集会: Asian Test Symposium

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EID
260171
EOID
680412
Map
0
LastModified
2013年2月27日(水) 22:22:17
Operator
橋爪 正樹
Avail
TRUE
Censor
0
Owner
橋爪 正樹
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カテゴリ 必須 研究
主催団体 必須 IEEE
名称 必須 (英) Asian Test Symposium
区分1 必須 国際
区分2 必須 主催
種別 必須 学会(国際)
組織 推奨
  1. IEEE
開催者 必須
  1. 橋爪 正樹([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
    役割 必須 プログラム編集委員
参加者数 必須 150
年月日 必須 2012年 11月 19日〜2012年 11月 22日
開催地 必須 (日) 新潟市
備考 任意