徳島大学 教育・研究者情報データベース(EDB)

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賞: 外観検査アルゴリズムコンテスト2008 優秀賞/江島 由華/[寺田 賢治]

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EID
259974
EOID
966249
Map
0
LastModified
2019年11月14日(木) 10:41:28
Operator
寺田 賢治
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TRUE
Censor
0
Owner
寺田 賢治
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カテゴリ 必須 研究
団体 必須 社団法人 精密工学会
名称 必須 (日) 外観検査アルゴリズムコンテスト2008 優秀賞
組織 推奨
  1. 徳島大学.大学院ソシオテクノサイエンス研究部.情報ソリューション部門(2006年4月1日〜)
受賞者 必須
  1. (英) Ejima Yuka / (日) 江島 由華 / (読) えじま ゆか
    学籍番号 推奨 ****
テーマ 必須

(日) 多段閾値を用いた欠陥検出手法
年月日 必須 2008年 12月 4日
指導教員 推奨
  1. 寺田 賢治([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.知能情報系.知能工学分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.知能情報コース.知能工学講座])
備考 任意