賞: 外観検査アルゴリズムコンテスト2010 学生奨励賞/山下 聡/[寺田 賢治]
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カテゴリ | 必須 | 研究 | |||
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団体 | 必須 | 社団法人 精密工学会 | |||
名称 | 必須 | (日) 外観検査アルゴリズムコンテスト2010 学生奨励賞 | |||
組織 | 推奨 |
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受賞者 | 必須 |
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テーマ | 必須 |
(日) 極小値を用いた粒子検出と移動距離・輝度差を用いた粒子追跡 |
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年月日 | 必須 | 2010年 12月 9日 | |||
指導教員 | 推奨 |
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備考 | 任意 |