徳島大学 教育・研究者情報データベース(EDB)

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雑誌: Journal of Electronic Testing - Theory and Applications

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EID
258289
EOID
671145
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0
LastModified
2012年11月14日(水) 22:08:13
Operator
大家 隆弘
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TRUE
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0
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EDB管理者
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組織
  1. Springer-Verlag
名称
  1. (英) Journal of Electronic Testing - Theory and Applications
ISSN 0923-8174
ISSN: 0923-8174 (pISSN: 0923-8174, eISSN: 1573-0727)
Title: Journal of Electronic Testing
Supplier: Kluwer Online
Publisher: Springer US
 (Scopus)   (CrossRef)  (Scopus information is found. [need login])
eISSN 1573-0727
ISSN: 0923-8174 (pISSN: 0923-8174, eISSN: 1573-0727)
Title: Journal of Electronic Testing
Supplier: Kluwer Online
Publisher: Springer US
 (Scopus)   (CrossRef)  (Scopus information is found. [need login])
URL http://www.springer.com/engineering/circuits+%26+systems/journal/10836
後継誌
備考