雑誌: Journal of Electronic Testing - Theory and Applications
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- EID
- 258289
- EOID
- 671145
- Map
- 0
- LastModified
- 2012年11月14日(水) 22:08:13
- Operator
- 大家 隆弘
- Avail
- TRUE
- Censor
- 0
- Owner
- EDB管理者
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組織 |
- Springer-Verlag
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名称 |
- (英) Journal of Electronic Testing - Theory and Applications
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ISSN |
0923-8174
ISSN: 0923-8174
(pISSN: 0923-8174, eISSN: 1573-0727) Title: Journal of Electronic TestingSupplier: Kluwer OnlinePublisher: Springer US (Scopus)
(CrossRef)
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eISSN |
1573-0727
ISSN: 0923-8174
(pISSN: 0923-8174, eISSN: 1573-0727) Title: Journal of Electronic TestingSupplier: Kluwer OnlinePublisher: Springer US (Scopus)
(CrossRef)
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URL |
http://www.springer.com/engineering/circuits+%26+systems/journal/10836 |
後継誌 |
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備考 |
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