賞: 第153回システムLSI設計技術研究会優秀発表学生賞/岡田 靖彦/[四柳 浩之]/[橋爪 正樹]
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カテゴリ | 必須 | 研究 |
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団体 | 必須 | (日) 社団法人情報処理学会 システムLSI設計技術研究会 |
名称 | 必須 | (日) 第153回システムLSI設計技術研究会優秀発表学生賞 |
組織 | 推奨 |
|
受賞者 | 必須 | |
テーマ | 必須 |
(日) テストデータ量削減のための反転信号シフト型 BAST 構成とテストパターン生成法 |
年月日 | 必須 | 2012年 8月 29日 |
指導教員 | 推奨 | |
備考 | 任意 |