徳島大学 教育・研究者情報データベース(EDB)

Education and Research Database (EDB), Tokushima University

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著作: [岩田 哲郎]/Wada Yusuke/Nishigaki Kentaro/[水谷 康弘]/Two-dimensional thickness measurement of a dielectric thin layer on a metal by use of surface-plasmon-resonance-based ellipsometry/[Proceedings of SPIE]

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EID
244058
EOID
1013785
Map
0
LastModified
2021年8月13日(金) 17:07:20
Operator
大家 隆弘
Avail
TRUE
Censor
承認済
Owner
岩田 哲郎
Read
継承
Write
継承
Delete
継承
種別 必須 国際会議
言語 必須 英語
招待 推奨
審査 推奨
カテゴリ 推奨
共著種別 推奨
学究種別 推奨
組織 推奨
著者 必須
  1. 岩田 哲郎
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  2. (英) Wada Yusuke
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  3. (英) Nishigaki Kentaro
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  4. 水谷 康弘
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
題名 必須

(英) Two-dimensional thickness measurement of a dielectric thin layer on a metal by use of surface-plasmon-resonance-based ellipsometry
副題 任意
要約 任意
キーワード 推奨
発行所 推奨
誌名 必須 Proceedings of SPIE([SPIE The International Society for Optical Engineering])
(pISSN: 0277-786X, eISSN: 1996-756X)
ISSN 任意 0277-786X
ISSN: 0277-786X (pISSN: 0277-786X, eISSN: 1996-756X)
Title: Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering
Title(ISO): Proc SPIE Int Soc Opt Eng
 (NLM Catalog)   (Scopus)  (Scopus information is found. [need login])
巻 必須 8169
号 必須 ---
頁 必須 ---
都市 必須 (英) Marseille, France / (日) Marseille, France
年月日 必須 2011年 9月 21日
URL 任意
DOI 任意 10.1117/12.896767    (→Scopusで検索)
PMID 任意
CRID 任意
WOS 任意
Scopus 任意 2-s2.0-80355143408
評価値 任意
被引用数 任意
指導教員 推奨
備考 任意