著作: [水谷 康弘]/[岩田 哲郎]/Thin film thickness measurement by surface prasmon resonance using modified Otto's configuration combined with ellipsometry/10th international symposium on Measurement and Quality Control 2010
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| 言語 | 必須 | 英語 | |||
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| 審査 | 推奨 | Peer Review | |||
| カテゴリ | 推奨 | ||||
| 共著種別 | 推奨 | ||||
| 学究種別 | 推奨 | ||||
| 組織 | 推奨 | ||||
| 著者 | 必須 | ||||
| 題名 | 必須 |
(英) Thin film thickness measurement by surface prasmon resonance using modified Otto's configuration combined with ellipsometry |
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| 副題 | 任意 | ||||
| 要約 | 任意 | ||||
| キーワード | 推奨 | ||||
| 発行所 | 推奨 | ||||
| 誌名 | 必須 |
(英) 10th international symposium on Measurement and Quality Control 2010 / (日) 10th international symposium on Measurement and Quality Control 2010
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| 巻 | 必須 | --- | |||
| 号 | 必須 | --- | |||
| 頁 | 必須 | E5-064-1 E5-064-4 | |||
| 都市 | 必須 | 大阪(Osaka/[日本国]) | |||
| 年月日 | 必須 | 2010年 9月 8日 | |||
| URL | 任意 | ||||
| DOI | 任意 | ||||
| PMID | 任意 | ||||
| CRID | 任意 | ||||
| WOS | 任意 | ||||
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| 指導教員 | 推奨 | ||||
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