徳島大学 教育・研究者情報データベース(EDB)

Education and Research Database (EDB), Tokushima University

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著作: 新部 正人/前田 佳恵/[川上 烈生]/[稲岡 武]/[富永 喜久雄]/向井 孝志/プラズマエッチングしたGaN結晶のNEXAFS測定によるダメージ解析/2010先端技術セミナー,高度産業科学技術研究所主催

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EID
209821
EOID
598469
Map
0
LastModified
2011年8月9日(火) 10:40:07
Operator
山田 美緒
Avail
TRUE
Censor
0
Owner
川上 烈生
Read
継承
Write
継承
Delete
継承
種別 必須 その他·研究会
言語 必須 日本語
招待 推奨
審査 推奨
カテゴリ 推奨
共著種別 推奨
学究種別 推奨
組織 推奨
  1. 徳島大学.工学部.電気電子工学科.物性デバイス講座
著者 必須
  1. (日) 新部 正人
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  2. (日) 前田 佳恵
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  3. 川上 烈生([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.物性デバイス分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.物性デバイス講座])
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  4. 稲岡 武
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  5. 富永 喜久雄
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  6. (日) 向井 孝志
    データベース中に適合する可能性のある以下の情報を発見しました
    [個人] 向井 孝志 ([日亜化学工業株式会社])
    この情報が上記に掲げた個人の業績等に分類されるためには参照登録が必要です.上記に掲げた個人本人に該当する場合には参照登録に変更してください.
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
題名 必須

(日) プラズマエッチングしたGaN結晶のNEXAFS測定によるダメージ解析

副題 任意
要約 任意
キーワード 推奨
発行所 推奨
誌名 必須 (日) 2010先端技術セミナー,高度産業科学技術研究所主催
ISSN 任意
必須 ---
必須 ---
必須 ---
都市 必須 (日) 日本
年月日 必須 2010年 3月 5日
URL 任意
DOI 任意
PMID 任意
NAID 任意
WOS 任意
Scopus 任意
評価値 任意
被引用数 任意
指導教員 推奨
備考 任意