著作: [英 崇夫]/X-Ray Stress Measurement of Thin Film Coatings/Materials Science Research International, Special Technical Publication
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| 種別 | 必須 | 総説·解説 | |||||||||
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| 言語 | 必須 | 英語 | |||||||||
| 招待 | 推奨 | ||||||||||
| 審査 | 推奨 | Peer Review | |||||||||
| カテゴリ | 推奨 | 研究 | |||||||||
| 共著種別 | 推奨 | ||||||||||
| 学究種別 | 推奨 | ||||||||||
| 組織 | 推奨 |
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| 著者 | 必須 |
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| 題名 | 必須 |
(英) X-Ray Stress Measurement of Thin Film Coatings |
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| 副題 | 任意 | ||||||||||
| 要約 | 任意 | ||||||||||
| キーワード | 推奨 | ||||||||||
| 発行所 | 推奨 | 日本材料学会 | |||||||||
| 誌名 | 必須 |
(英) Materials Science Research International, Special Technical Publication
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| 巻 | 必須 | 1 | |||||||||
| 号 | 必須 | ||||||||||
| 頁 | 必須 | 285 290 | |||||||||
| 都市 | 任意 | 京都(Kyoto/[日本国]) | |||||||||
| 年月日 | 必須 | 2001年 5月 10日 | |||||||||
| URL | 任意 | ||||||||||
| DOI | 任意 | ||||||||||
| PMID | 任意 | ||||||||||
| CRID | 任意 | ||||||||||
| WOS | 任意 | ||||||||||
| Scopus | 任意 | ||||||||||
| researchmap | 任意 | ||||||||||
| 評価値 | 任意 | ||||||||||
| 被引用数 | 任意 | ||||||||||
| 指導教員 | 推奨 | ||||||||||
| 備考 | 任意 | ||||||||||