徳島大学 教育・研究者情報データベース(EDB)

1. 講義形式とポートフォーリオ形式の併用

(英) This class introduces the techniques and the recent topics related to the design and test of logic circuits.

(日) 情報化社会は計算機を代表とする論理回路で作られている．その論理回路の設計法，検査法についての専門知識を得る．

(英) Performance analysis methods of digital circuits in information systems, high speed logic circuit design, low power circuit design and optimized logic circuit design for high performance information system, testing and testable design of digital and analog circuits for realizing high reliable information system.

(日) ディジタル回路を構成する論理回路の動作解析法，回路の動作速度·規模·消費電力等を最適化するための回路設計法，および設計回路に対する検査法とその検査を容易とする設計法について講述する． (橋爪正樹教授)論理回路の各種検査法と，検査を容易に行えるように配慮する論理回路の設計法に関する講義を担当する．(四柳浩之准教授)ハードウェア記述言語を用いる回路設計と，順序回路の検査容易化設計に関する講義を担当する．

1. (英) system design for integrated circuits / (日) 集積回路のシステム設計
2. (英) testing of integrated circuits / (日) 集積回路のテスト
3. (英) synthesis for testability / (日) テスト容易化設計

(英) Familiarity with switching theory

(日) 論理回路の基礎理論を理解していること

1. (英) To understand system design techniques for integrated circuits

   (日) 論理回路の設計工程とその技法を説明できる

2. (英) To understand test technologies for integrated circuits

   (日) 論理回路の検査工程とその技法を説明できる．

3. (英) To understand design for testability techniques for integrated circuits

   (日) 論理回路の検査容易化設計法を説明できる．

1. (英) compsitions of information systems

   (日) 情報システムの構成要素

2. (英) design process of logic circuits

   (日) 論理回路の設計工程

3. (英) logic synthesis for combinational circuits

   (日) 組合せ論理回路の論理合成法

4. (英) design process of sequential circuits

   (日) 順序論理回路の設計法

5. (英) principle of dynamic logic circuits

   (日) ダイナミック論理回路の動作原理

6. (英) design of dynamic logic circuits

   (日) ダイナミック論理回路の設計法

7. (英) hardware description language

   (日) ハードウエア記述言語

8. (英) circuit design using HDL

   (日) ハードウエア記述言語を用いた設計法

9. (英) test process of logic circuits

   (日) 論理回路の検査工程

10. (英) test technologies for combinational logic circuits

    (日) 組合せ論理回路の検査技法

11. (英) test technologies for sequential logic circuits

    (日) 順序論理回路の検査技法

12. (英) design for testability

    (日) 論理回路の検査容易化設計の必要性とその技法

13. (英) test technologies using design for testability

    (日) 検査容易化設計された回路の検査法

14. (英) techniques of design for testability

    (日) 論理回路の検査容易化設計法

15. (英) Built-in self test for logic circuits

    (日) 論理回路の組み込み検査回路

16. (英) Final examination

    (日) 定期テスト

(英) Participation and presentation:30%; Final examination:70%

(日) 平常点30%, 期末試験70%で評価する

1. (英) specified in the first class

   (日) 初回の授業で指定する

1. (英) introduced in the class

   (日) 授業中に紹介する

1. 橋爪 正樹

   オフィスアワー	任意

2. 四柳 浩之([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])

   オフィスアワー	任意

1. (英) This subject will be given in English.

   (日) 国際連携大学院担当教員科目のため英語授業となる場合がある．