徳島大学 教育・研究者情報データベース(EDB)

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著作: [橋爪 正樹]/[一宮 正博]/Hoshika Hiroshi/[四柳 浩之]/[為貞 建臣]/CMOS Open Defect Detection by Supply Current Test/Proc. of Design, Automation and Test in Europe Conference 2001

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EID
16363
EOID
759729
Map
0
LastModified
2014年12月3日(水) 06:24:11
Operator
四柳 浩之
Avail
TRUE
Censor
0
Owner
橋爪 正樹
Read
継承
Write
継承
Delete
継承
種別 必須 国際会議
言語 必須 英語
招待 推奨
審査 推奨 Peer Review
カテゴリ 推奨
共著種別 推奨
学究種別 推奨
組織 推奨
  1. 徳島大学.工学部.電気電子工学科.知能電子回路講座
著者 必須
  1. 橋爪 正樹([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  2. 一宮 正博
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  3. (英) Hoshika Hiroshi
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  4. 四柳 浩之([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  5. 為貞 建臣
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
題名 必須

(英) CMOS Open Defect Detection by Supply Current Test

副題 任意
要約 任意

(英) In this paper, a new test method is proposed for detecting open defects in CMOS ICs. The method is based on supply current of ICs generated by applying time-variable electric field from the outside of the ICs. The feasibility of the test is examined by some experiments. The empirical results promised that, by using the method, open defects in CMOS ICs can be detected by measuring supply current which flows when time-variable electric field is applied

(日) 本論文では,CMOS IC 内の断線故障を検出する検査手法を提案する.提案手法は,IC外部から印加する時変電界により発生するICの電源電流を基に検査を行う.提案手法の有効性を実験により示す.

キーワード 推奨
発行所 推奨 IEEE
誌名 必須 (英) Proc. of Design, Automation and Test in Europe Conference 2001
ISSN 任意
必須
必須
必須 509 513
都市 必須 ミュンヘン(Munich/[ドイツ連邦共和国])
年月日 必須 2001年 3月 13日
URL 任意
DOI 任意 10.1109/DATE.2001.915071    (→Scopusで検索)
PMID 任意
NAID 任意
WOS 任意
Scopus 任意
評価値 任意
被引用数 任意
指導教員 推奨
備考 任意