共同研究: [愛媛大学.工学部]/[徳島大学.大学院ソシオテクノサイエンス研究部.情報ソリューション部門.計算機システム工学]/明治大学/半導体理工学研究センター/高松 雄三/高橋 寛/樋上 喜信/[橋爪 正樹]/[四柳 浩之]/堤 利幸/山崎 浩二/[他大学·他学部との共同研究]
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- EID
- 160762
- EOID
- 350220
- Map
- 0
- LastModified
- 2007年7月30日(月) 13:47:50
- Operator
- 四柳 浩之
- Avail
- TRUE
- Censor
- 承認済
- Owner
- 四柳 浩之
- Read
- 継承
- Write
- 継承
- Delete
- 継承
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組織 |
必須 |
- 愛媛大学.工学部
研究者 |
必須 |
- (英) Takamatsu Yuzo / (日) 高松 雄三 / (読) たかまつ ゆうぞう
- (英) Takahashi Hiroshi / (日) 高橋 寛 / (読) たかはし ひろし
- (英) Higami Yoshinobu / (日) 樋上 喜信 / (読) ひがみ よしのぶ
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- 徳島大学.大学院ソシオテクノサイエンス研究部.情報ソリューション部門.計算機システム工学(2006年4月1日〜2016年3月31日)
研究者 |
必須 |
- 橋爪 正樹
- 四柳 浩之([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
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- (日) 明治大学
研究者 |
必須 |
- (英) Tsutsumi Toshiyuki / (日) 堤 利幸 / (読) つつみ としゆき
- (英) Yamazaki Koji / (日) 山崎 浩二 / (読) やまざき こうじ
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- (日) 半導体理工学研究センター
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種別 |
必須 |
他大学·他学部との共同研究 |
テーマ |
必須 |
(日) テストチップの製作とその解析に基づく製造容易化設計のための新故障モデルとそのテスト・故障診断に関する研究
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期間 |
必須 |
2006年 4月 初日〜2007年 3月 31日 |
区分 |
任意 |
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金額 |
推奨 |
- 20000.0千円
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備考 |
任意 |
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