徳島大学 教育・研究者情報データベース(EDB)

Education and Research Database (EDB), Tokushima University

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研究: [岡田 達也]/[結晶欠陥]

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EID
15485
EOID
1078160
Map
0
LastModified
2023年6月28日(水) 11:34:28
Operator
岡田 達也
Avail
TRUE
Censor
承認済
Owner
岡田 達也
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研究者 必須 岡田 達也([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.機械科学系.材料科学分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.機械科学コース.材料科学講座])
分野 必須
  1. 結晶欠陥(Crystallographic Defect/[結晶学])
テーマ 必須

  1. (英) TEM observation of crystallographic defects in semiconductors

    (日) 半導体中の結晶欠陥の透過電子顕微鏡観察
要約 任意

(日) SiCやダイヤモンド等に含まれる結晶欠陥(転位，積層欠陥)の解析を透過型電子顕微鏡を用いて行う．
キーワード 推奨
  1. 炭化ケイ素(SiC)
  2. 結晶欠陥(crystallographic defect)
  3. エピタキシャル膜(epitaxial film)
  4. 透過電子顕微鏡法(transmission electron microscopy)
  5. ダイヤモンド(diamond)
共同研究 推奨

  1. (英) transmission electron microscopy

    (日) 透過電子顕微鏡観察
優先度 任意 2
備考 任意