徳島大学 教育・研究者情報データベース(EDB)

Education and Research Database (EDB), Tokushima University

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著作: [西野 秀郎]/塚原 祐輔/レーザー超音波法によるICパッケージの非接触探傷法/超音波テクノ

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EID
117070
EOID
227627
Map
0
LastModified
2005年5月17日(火) 13:41:22
Operator
近江 千代子
Avail
TRUE
Censor
0
Owner
西野 秀郎
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種別 必須 総説·解説
言語 必須 日本語
招待 推奨
審査 推奨
カテゴリ 推奨
共著種別 推奨
学究種別 推奨
組織 推奨
  1. 徳島大学.工学部.機械工学科.機械科学講座
著者 必須
  1. 西野 秀郎([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.機械科学系.材料科学分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.機械科学コース.材料科学講座])
    役割 任意 共著
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
  2. (日) 塚原 祐輔
    役割 任意
    貢献度 任意
    学籍番号 推奨
題名 必須

(日) レーザー超音波法によるICパッケージの非接触探傷法

副題 任意
要約 任意

(日) 非接触非破壊で非検体内部の微小欠陥を検出可能な走査干渉縞による超音波検査手法について述べ,人工欠陥の画像を示した.未だ研究的な要素が多く,現実のICパッケージへの適用はこれからであるが,走査干渉縞による超音波励起は,レーザー超音波法としては,これまでにな特性(単一モード選択性,単一指向性,高周波数)を有しており今後さまざまな応用が期待されることを解説した.

キーワード 推奨
発行所 推奨 日本工業出版 株式会社
誌名 必須 (日) 超音波テクノ
ISSN 任意
必須 7
必須 10
必須 15 19
都市 任意
年月日 必須 1995年 10月 初日
URL 任意
DOI 任意
PMID 任意
NAID 任意
WOS 任意
Scopus 任意
評価値 任意
被引用数 任意
指導教員 推奨
備考 任意